Структурно-фазові перетворення в плівках на границі розділу гетеросистеми «скло – кластери Ag-Pd» – Sn-Pb

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛепіх, Ярослав Ілліч
dc.contributor.authorLepikh, Yaroslav I.
dc.contributor.authorЛепих, Ярослав Ильич
dc.contributor.authorЛавренова, Т. І.
dc.contributor.authorЛавренова, Т. И.
dc.contributor.authorLavrenova, T. I.
dc.contributor.authorБалабан, Андрій Петрович
dc.contributor.authorBalaban, Andrii P.
dc.contributor.authorБалабан, Андрей Петрович
dc.date.accessioned2021-07-14T09:32:19Z
dc.date.available2021-07-14T09:32:19Z
dc.date.issued2021
dc.description.abstractДосліджено структурно-фазові перетворення у плівках на границі розділу ге- теро системи «скло – кластери Ag-Pd» – Sn-Pb. Встановлено зв’язок цих перетворень з дисперсністю вихідних компонентів матеріалів системи за однакових температурних режимів обробки плівкових елементів. Показано, що структурно-фазові перетворення в контактних елементах мікроелектрон- них пристроїв гібридних інтегральних схем, сенсорів, сонячних елементів тощо виготовлених з функціональних матеріалів на основі вказаної системи можуть призводити до деградаційних процесів і, як наслідок, до зниження надійності радіоелектронних виробів.uk_UA
dc.description.abstractStructural-phase transformations in films at the interface of the heterosystem "glass - Ag-Pd clusters" – Sn-Pb have been investigated. The relationship between these transformations and the initial system material component dispersion is established at the same film element temperature operating mode. Т. І. Лавренова, Sensor Electronics and Мicrosystem Technologies 2021 – T. 18, № 2 15 It is shown that structural-phase transformations in contact elements of hybrid integrated circuits microelectronic devices, sensors and solar cells, etc. made of functional materials based on the specified heterosystem can lead to degradation processes and, as a consequence, to a decrease in the electronic product reliability.
dc.description.abstractИсследованы структурно-фазовые превращения в пленках на границе раздела гетеросистемы «стекло - кластеры Ag-Pd» – Sn-Pb. Установлена связь этих преобразований с дисперсностью исходных компонентов мате- риалов системы при одинаковых температурных режимах обработки пленочных элементов. Показано, что структурно-фазовые превращения в контактных элементах микроэлектрон- ных устройств гибридных интегральных схем, сенсоров, солнечных элементов и т.п. изготов- ленных из функциональных материалов на основе указанной системы могут приводить к дегра- дационным процессам и, как следствие, к снижению надежности радиоэлектронных изделий.
dc.identifierУДК 621.32; 535.37
dc.identifier.citationСенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologiesuk_UA
dc.identifier.doi10.18524/1815-7459.2021.2.235202
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/31391
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk_UA
dc.relation.ispartofseries;T. 18, № 2.
dc.subjectгетеросистеми «скло - кластери»uk_UA
dc.subjectграниця поділуuk_UA
dc.subjectструктурно-фазові перетворенняuk_UA
dc.subjectheterosystems "glass - clusters"uk_UA
dc.subjectinterfaceuk_UA
dc.subjectstructural-phase transformationsuk_UA
dc.subjectгетеросистемы «стекло - кластеры»uk_UA
dc.subjectграница разделаuk_UA
dc.subjectструктурно-фазовые превращенияuk_UA
dc.titleСтруктурно-фазові перетворення в плівках на границі розділу гетеросистеми «скло – кластери Ag-Pd» – Sn-Pbuk_UA
dc.title.alternativeStructural-phase transformations in films at the interface of the heterosystem “glass - clusters Ag-Pd” – Sn-Pbuk_UA
dc.title.alternativeСтруктурно-фазовые превращения в пленках на границе раздела гетеросистемы «стекло - кластеры Ag-Pd» – Sn-Pbuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
14-19.pdf
Розмір:
380.15 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології