DETECTION OF AMMONIA MOLECULES USING OPTICAL REFLECTANCE FROM NANOSTRUCTURED SILICON SURFACE

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorIatsunskyi, Igor R.
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.
dc.contributor.authorPavlenko, Mykola V.
dc.contributor.authorЯцунский, Игорь Ростиславович
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич
dc.contributor.authorПавленко, Николай Николаевич
dc.contributor.authorЯцунський, Ігор Ростиславович
dc.contributor.authorСминтина, Валентин Андрійович
dc.contributor.authorПавленко, Микола Миколайович
dc.date.accessioned2014-01-25T09:28:59Z
dc.date.available2014-01-25T09:28:59Z
dc.date.issued2013
dc.descriptionФотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса, 2013. - англ.uk
dc.description.abstractThe reflectance properties of various porous silicon structures after ammonia adsorption were investigated. It was shown that increasing of ammonia concentration in the measurement chamber leads to an increase of the optical reflectance. The most sensitive structures for ammonia detection are porous silicon having approximately size of pores - 10-15 um.uk
dc.description.abstractБыло исследовано оптическое отражение различных пористых структур кремния после адсорбции аммиака. Показано, что повышение концентрации аммиака приводит к увеличению оптического отражения. Наиболее чувствительными структурами для детектирования аммиака является пористый кремний, имеющий размер пор - 10-15 мкм.uk
dc.description.abstractБуло досліджено оптичне відбиття різних поруватих структур кремнію після адсорбції аміаку. Показано, що підвищення концентрації аміаку призводить до збільшення оптичного відбиття. Найбільш чутливими структурами для детектування аміаку є поруватий кремній, що має розмір пор - 10-15 мкм.uk
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/4318
dc.language.isoenuk
dc.publisherОдесский национальный университет имени И. И. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseries;№ 22, p. 66-71
dc.subjectporous siliconuk
dc.subjectadsorptionuk
dc.subjectreflectanceuk
dc.subjectammoniauk
dc.subjectпористый кремнийuk
dc.subjectадсорбцияuk
dc.subjectоптическое отражениеuk
dc.subjectаммиакuk
dc.subjectпоруватий кремнійuk
dc.subjectадсорбціяuk
dc.subjectоптичне відбиттяuk
dc.subjectаміакuk
dc.titleDETECTION OF AMMONIA MOLECULES USING OPTICAL REFLECTANCE FROM NANOSTRUCTURED SILICON SURFACEuk
dc.title.alternativeДЕТЕКТИРОВАНИЕ АММИАКА МЕТОДОМ ОПТИЧЕСКОГО ОТРАЖЕНИЯ НАНО-СТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ КРЕМНИЯuk
dc.title.alternativeДЕТЕКТУВАННЯ АМІАКУ МЕТОДОМ ОПТИЧНОГО ВІДБИТТЯ НАНОСТРУКТУРОВАНОЮ ПОВЕРХНЕЮ КРЕМНІЮuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
66-71.pdf
Розмір:
416.99 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics