Инжекция неосновных носителей заряда в поверхностно-барьерных структурах на основе Sі : Au

Вантажиться...
Ескіз
Дата
2002
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
ISSN
E-ISSN
Назва тому
Видавець
Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Анотація
Обсуждается инжекция носителей заряда в поверхностно-барьерных структурах Ni-Sі : Au при прямом смещении в приближении термоэлектронной эмиссии — диффузии Показано, что коэффициент инжекции у может быть достаточно большим при на­личии диэлектрической прослойки (Sі О2) между металлом и полупроводником. Повыше­ние удельного сопротивления исходного материала и снижение температуры так же собствует росту у.
Опис
Ключові слова
инжекция, диффузия, коэффициент, диэлектрическая прослойка
Бібліографічний опис
Фотоэлектроника = Photoelectronics
DOI
ORCID:
УДК
Зібрання