ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГордієнко, Ю. О.
dc.contributor.authorЛаркін, С. Ю.
dc.contributor.authorЛепіх, Ярослав Ілліч
dc.contributor.authorЛєнков, С. В.
dc.contributor.authorПроценко, В. О.
dc.contributor.authorВаків, М. М.
dc.contributor.authorGordienko, Yu. E.
dc.contributor.authorLеrkin, S.Yu.
dc.contributor.authorLenkov, S. V.
dc.contributor.authorProcenko, V. O.
dc.contributor.authorVakiv, M. M.
dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.authorЛаркин, С. Ю.
dc.contributor.authorЛепих, Ярослав Ильич
dc.contributor.authorЛенков, С. В.
dc.contributor.authorПроценко, В. О.
dc.contributor.authorВакив, М. М.
dc.contributor.authorLepikh, Yaroslav I.
dc.date.accessioned2012-03-05T13:51:39Z
dc.date.available2012-03-05T13:51:39Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractУ роботі обґрунтовано загальні підходи до оцінки впливу характеристик резонаторних зондів на просторову роздільну здатність та контрастність зображень в скануючій мікрохвильовій мікроскопії. Зокрема, якісно і кількісно установлені залежності сигналів сканування, що пов язані зі зміною об єктом добротності та резонансної частоти зондів, від геометрії коаксіальної апертури, форми вістря та величини зазору між зондом і об єктом. Для фізичного обґрунтування цих залежностей чисельно досліджено розподіл ближнього поля при різних характеристиках. Особливо відзначено перехід від «трубчатого» характеру розподілу поля при сплощеному вістрі до квазігаусового при наданні йому сферичної форми.Встановлені аспекти можно використовувати при оптимальному проектуванні резонаторних зондів для мікрохвильових мікроскопів різного призначення.uk
dc.description.abstractВ работе обоснованы общие подходы к оценке влияния характеристик резонаторных зондов на пространственную разрешающую способность и контрастность изображений в сканирующей микроволновой микроскопии. В частности, качественно и количественно установлены зависимости сигналов сканирования, которые связаны с изменением объектом добротности и резонансной частоты зондов, от геометрии коаксиальной апертуры, формы острия и величины зазора между зондом и объектом. Для физического обоснования этих зависимостей численно исследовано распределение ближнего поля при различных характеристиках. Особенно отмечен переход от «трубчатого» характера распределения поля при уплощенном острии к квазигауссовому с приданием ему сферической формы.Установленные аспекты можно использовать при оптимальном проектировании резонаторных зондов для микроволновых микроскопов разного назначения.uk
dc.description.abstractIn the work the general approaches to an estimation of influence of characteristics resonator probes on spatial resolution and contrast of images in scanning microwavе microscopy are proved.In particular, the dependences of scanning signals which are caused by influence of object of research on a value of quality factor and resonance frequency of probes from geometry of the coaxial aperture, the form of an edge and gap size between a probe and object are qualitatively and quantitatively established. For a physical substantiation of these dependences on the specified characteristics there were three dimensional distributions of a near field numerically investigated. Transition from «tubular» character of distribution of a field, which is characteristic for the flat form of an edge, to quasigaussian distribution of a field for the spherical form of an edge is especially pointed.The established dependences can be used for optimum designing of resonator probes of microwave microscopes for different function.uk
dc.identifier.citationСенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologiesuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/2271
dc.language.isoukuk
dc.relation.ispartofseries;Т. 2(8), № 3.
dc.subjectскануюча мікрохвильова мікроскопія (СММ)uk
dc.subjectрезонаторний зондuk
dc.subjectдобротністьuk
dc.subjectрезонансна частотаuk
dc.subjectпросторова роздільна здатність (ПРЗ)uk
dc.subjectнапівпровідникuk
dc.subjectдіелектрична проникністьuk
dc.subjectсканирующая микроволновая микроскопия (СММ)uk
dc.subjectрезонаторный зондuk
dc.subjectдобротностьuk
dc.subjectрезонансная частотаuk
dc.subjectпространственная разрешающая способность (ПРС)uk
dc.subjectполупроводникuk
dc.subjectдиэлектрическая проницаемостьuk
dc.subjectscanning microwave microscopy (SMM)uk
dc.subjectresonator probeuk
dc.subjectquality factoruk
dc.subjectresonance frequencyuk
dc.subjectspacial resolving capacity (SRC)uk
dc.subjectsemiconductoruk
dc.subjectdielectric permittivityuk
dc.titleТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇuk
dc.title.alternativeТЕОРЕТИЧЕСКИЕ АСПЕКТІЫ МОДЕЛИРОВАНИЯ И ПРОЕКТИРОВАНИЯ РЕЗОНАТОРНЫХ ЗОНДОВ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ МИКРОВОЛНОВОЙ МИКРОСКОПИИuk
dc.title.alternativeTHE THEORETICAL ASPECTS OF MODELLING AND DESIGNING OF RESONATOR PROBES FOR SCANNING MICROWAVE MICROSCOPYuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
sens3_11 97-107.pdf
Розмір:
1.04 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології