Молекулярные комплексы оксида серы (IV) с N,O-содержащими органическими основаниями (обзор)

Вантажиться...
Ескіз
Дата
2016
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
ISSN
E-ISSN
Назва тому
Видавець
Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Анотація
Систематизированы и обобщены литературные данные по синтезу, стехиометрии, строению и относительной устойчивости молекулярных комплексов оксида серы (IV) c N,O-содержащими органическими основаниями. Особое внимание уделено механизмам образования комплексов с переносом заряда, в которых реализуется S←N- и S←O- связывание, а также ван-дер-ваальсовых комплексов. Отмечены корреляции между электронными, спектральными параметрами, строением, относительной устойчивостью и другими характеристиками образуемых соединений.
Систематизовано та узагальнено літературні дані щодо синтезу, стехіометрії, будови та відносної стійкості молекулярних комплексів оксиду сірки (IV) з N,O-вмісними органічними основами. Особливу увагу приділено механізмам утворення комплексів з переносом заряду, в яких реалізується S←N и S←O зв'язування, а також ван-дер-ваальсових комплексів. Відзначено кореляції між електронними, спектральними параметрами, будовою, відносною стійкістю і іншими характеристиками утворених сполук.
The literature data on the synthesis, stoichiometry, structure and relative stability of molecular complexes of sulphur dioxide with N,O-containing organic bases have been systematized and generalized. It was shown that the yield of the reaction product of sulfur dioxide with organic bases (such as amines) are strongly influenced by the conditions of synthesis: the nature of the solvent (basicity, polarity), the temperature and SO2:L ratio in the reaction medium. The stoichiometry of SO2·nL molecular complexes depends on ligand denticity, as well as its ability to H-bonding. The reaction of the sulfur oxide (IV) with organic bases can give S←N and S←O complexes. With the increase of the value of base proton affinity the decrease ΔrSN values has been marked. Characteristic parameter ΔrSN = rSN – a1(rS + rN) (where rSN is the S←N donor-acceptor bond length) has been determined by microwave spectroscopy and Xray analysis, rS and rN were the tabulated values of the homopolar covalent radii of sulphur and nitrogen heteroatoms. The dependence of formation enthalpy of molecular complexes of basic amines and spectral characteristics has been noted; enthalpy-entropy compensation for S←N and S←O complexes has been stated. Despite the limited experimental data on the thermodynamics of complex formation and the lengths of donor-acceptor bonds for the same compounds it has been found bond S←N strength in SO2 molecular complexes to depend on the intrinsic value of ΔrSN. The contribution of van der Waals forces and charge transfer forces to the formation of molecular complexes of sulphur dioxide has been stated.
Опис
Ключові слова
оксид серы (IV), N,O-содержащие органические основания, комплексы с переносом заряда, ван-дер-ваальсовы комплексы, оксид сірки (IV), N,O-вмісні органічні основи, комплекси з переносом заряду, ван-дер-ваальсові комплекси, sulphur dioxide, N,O-containing organic bases, charge transfer complexes, van der Waals complexes
Бібліографічний опис
Вісник Одеського національного університету = Odesa National University Herald
DOI
ORCID:
УДК