Degradation of semiconductordevices: non-destructive diagnostics

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorPtashchenko, Oleksandr O.
dc.contributor.authorPtashchenko, F. A.
dc.contributor.authorПтащенко, Олександр Олександрович
dc.contributor.authorПтащенко, Александр Александрович
dc.date.accessioned2010-09-21T11:12:19Z
dc.date.available2010-09-21T11:12:19Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractНаведено огляд механізмів деградаційних процесів у напівпровідниках та експериментальних даних про деградаційні явища у напівпровідникових приладах оптоелектроніки. Представлено неруйнівні методи діагностики деградаційних процесів,що базуються на аналізі електричних і світлових характеристик та поляризації випромінювання в різних діелктричних середовищах, випромінюванні просторового розподілу випромінювання та фоточутливості, аналізі високочастотного спектру шумів. Проведен обзор механизмов деградационных процессов в полупроводниках и экспериментальных данных о деградационных явлениях в полупроводниковых приборах оптоэлектроники. Представлены неразрушающие методы диагностики деградационных процессов, основанные на анализе электрических и световых характеристик и поляризации излучения в различных диалектических средах, измерении пространственного распределения излучения и фоточувствительности, анализе низкочастотного спектра шумов. General insight into mechanisms of degradation process in semiconductors is given, as well assome of experimental data on degradation phenomena in in optoelectronic semiconductor devices. Non-destructive techniques for diagnostics of degradation process are presented, based on analysis of electrical and light output characteristics, as well as polarization of emission in different dielectric mediums, measurements of spatial distributions of emission and photosensivity, analysis of low-frequency noise spectrum.uk
dc.identifier.citationВісник Одеського національного університету = Odesa National University Heralduk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/479
dc.language.isoenuk
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseriesФізика;Том 11, вип. 7
dc.titleDegradation of semiconductordevices: non-destructive diagnosticsuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
3-18.pdf
Розмір:
1.76 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.82 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Дослiдження в математицi i механiцi