The processes associated with the bifurcation in the current-voltage characteristics

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorSimanovych, Nadiia S.
dc.contributor.authorKarakis, Yurii M.
dc.contributor.authorKutalova, Mariia I.
dc.contributor.authorChebanenko, Anatoliy P.
dc.contributor.authorZatovska, Nataliia P.
dc.contributor.authorСиманович, Надежда Станиславовна
dc.contributor.authorКаракис, Юрий Николаевич
dc.contributor.authorКуталова, Мария Ивановна
dc.contributor.authorЧебаненко, Анатолий Павлович
dc.contributor.authorЗатовская, Наталия Петровна
dc.contributor.authorСіманович, Надія Станіславівна
dc.contributor.authorКаракіс, Юрій Миколайович
dc.contributor.authorКуталова, Марія Іванівна
dc.contributor.authorЧебаненко, Анатолій Павлович
dc.contributor.authorЗатовська, Наталія Петрівна
dc.date.accessioned2015-10-06T10:32:28Z
dc.date.available2015-10-06T10:32:28Z
dc.date.issued2015
dc.descriptionФотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса, 2015.uk
dc.description.abstractThe mechanisms leading to the intersection of the dark and light current-voltage characteristics and related phenomena has been considered. The possibility of participation in it as non-equilibrium carriers in the case of solar cells, and the contribution of the equilibrium charge when the temperature impact on the reference diode has been shown. A model explaining the observed features has been built.uk
dc.description.abstractРассмотрены механизмы, приводящие к пересечению вольт-амперных характеристик и сопутствующие явления. Показана возможность участия при этом как неравновесных носителей в случае фотоэлементов, так и вклад равновесного заряда при температурном воздействии на опорные диоды. Построены модели, объясняющие наблюдаемые особенности.uk
dc.description.abstractРозглянуто механізми, що приводять до перетину вольт-амперних характеристик та явища, що їх супроводжують. Показано можливість участі при цьому як нерівноважних носіїв у випадку фотоелементів, так і внесок рівноважного заряду при температурному впливі на опорні діоди. Побудовано моделі, які пояснюють особливості що спостерігаються.uk
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/7297
dc.language.isoenuk
dc.publisherОдесский национальный университет имени И. И. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseries;№ 24, р. 103-108.
dc.subjectbifurcationuk
dc.subjectprocessuk
dc.subjectcharacteristicuk
dc.subjectбифуркацияuk
dc.subjectпроцессыuk
dc.subjectхарактеристикаuk
dc.subjectбифуркаціяuk
dc.subjectпроцесuk
dc.titleThe processes associated with the bifurcation in the current-voltage characteristicsuk
dc.title.alternativeПроцессы, связанные с бифуркацией вольт-амперных характеристикuk
dc.title.alternativeПроцеси, що пов’язані з біфуркацією вольт–амперних характеристикuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
103-108.pdf
Розмір:
558.81 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics