Основи метрології, стандартизації і сертифікації

dc.contributor.authorОрловська, Світлана Георгіївна
dc.date.accessioned2019-03-13T09:14:03Z
dc.date.available2019-03-13T09:14:03Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractУ навчальному посібнику розглядаються основні положення та визначення у сфері метрології, розглянуто одиниці фізичних величин, питання теорії похибок вимірювань, методики обробки результатів спостережень. Особлива увага приділяється питанню забезпечення єдності вимірювань, стану еталонної бази України, наведено конструкції та схеми еталонів для реалізації основних одиниць міжнародної системи SI. Для студентів природничих факультетів вищих навчальних закладівuk
dc.description.abstractДОСТУП ТІЛЬКИ В ЕЛЕКТРОННИХ ЧИТАЛЬНИХ ЗАЛАХ БІБЛІОТЕКИ. ДЛЯ ДОСТУПУ НАТИСНІТЬ ПОСИЛАННЯ НИЖЧЕ
dc.identifierУДК 621.317
dc.identifier.citationОрловська С. Г. Основи метрології, стандартизації і сертифікації. Частина 1 : навч. посіб. / С. Г. Орловська – Одеса : Одес. нац. ун-т ім. І. І. Мечникова, 2018. – 142 с.uk
dc.identifier.isbn978-617-689-284-7
dc.identifier.urihttp://opac.lib.onu/metodichki/mfit/Орловская.pdf
dc.language.isoukuk
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseries;Ч. 1
dc.subjectметрологіяuk
dc.subjectшкала вимірюванняuk
dc.subjectСІuk
dc.subjectтеорія похибокuk
dc.subjectсистематичні похибкиuk
dc.subjectокруглення результатів вимірюваньuk
dc.subjectвипадкові похибкиuk
dc.subjectєдність вимірюваньuk
dc.subjectкласифікація еталонівuk
dc.subjectеталонна база Україниuk
dc.titleОснови метрології, стандартизації і сертифікаціїuk
dc.typeLearning Objectuk
Файли
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: