Доступ до документа закритий
Основи метрології, стандартизації і сертифікації
dc.contributor.author | Орловська, Світлана Георгіївна | |
dc.date.accessioned | 2019-03-13T09:14:03Z | |
dc.date.available | 2019-03-13T09:14:03Z | |
dc.date.issued | 2018 | |
dc.description.abstract | У навчальному посібнику розглядаються основні положення та визначення у сфері метрології, розглянуто одиниці фізичних величин, питання теорії похибок вимірювань, методики обробки результатів спостережень. Особлива увага приділяється питанню забезпечення єдності вимірювань, стану еталонної бази України, наведено конструкції та схеми еталонів для реалізації основних одиниць міжнародної системи SI. Для студентів природничих факультетів вищих навчальних закладів | uk |
dc.description.abstract | ДОСТУП ТІЛЬКИ В ЕЛЕКТРОННИХ ЧИТАЛЬНИХ ЗАЛАХ БІБЛІОТЕКИ. ДЛЯ ДОСТУПУ НАТИСНІТЬ ПОСИЛАННЯ НИЖЧЕ | |
dc.identifier | УДК 621.317 | |
dc.identifier.citation | Орловська С. Г. Основи метрології, стандартизації і сертифікації. Частина 1 : навч. посіб. / С. Г. Орловська – Одеса : Одес. нац. ун-т ім. І. І. Мечникова, 2018. – 142 с. | uk |
dc.identifier.isbn | 978-617-689-284-7 | |
dc.identifier.uri | http://opac.lib.onu/metodichki/mfit/Орловская.pdf | |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | Одеський національний університет імені І. І. Мечникова | uk |
dc.relation.ispartofseries | ;Ч. 1 | |
dc.subject | метрологія | uk |
dc.subject | шкала вимірювання | uk |
dc.subject | СІ | uk |
dc.subject | теорія похибок | uk |
dc.subject | систематичні похибки | uk |
dc.subject | округлення результатів вимірювань | uk |
dc.subject | випадкові похибки | uk |
dc.subject | єдність вимірювань | uk |
dc.subject | класифікація еталонів | uk |
dc.subject | еталонна база України | uk |
dc.title | Основи метрології, стандартизації і сертифікації | uk |
dc.type | Learning Object | uk |
Файли
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 1.71 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: