Доступ до документа закритий
Основи метрології, стандартизації і сертифікації
Ескіз недоступний
Дата
2018
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
ISSN
E-ISSN
Назва тому
Видавець
Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Анотація
У навчальному посібнику розглядаються основні положення та
визначення у сфері метрології, розглянуто одиниці фізичних величин,
питання теорії похибок вимірювань, методики обробки результатів
спостережень. Особлива увага приділяється питанню забезпечення єдності
вимірювань, стану еталонної бази України, наведено конструкції та схеми
еталонів для реалізації основних одиниць міжнародної системи SI.
Для студентів природничих факультетів вищих навчальних закладів
ДОСТУП ТІЛЬКИ В ЕЛЕКТРОННИХ ЧИТАЛЬНИХ ЗАЛАХ БІБЛІОТЕКИ. ДЛЯ ДОСТУПУ НАТИСНІТЬ ПОСИЛАННЯ НИЖЧЕ
ДОСТУП ТІЛЬКИ В ЕЛЕКТРОННИХ ЧИТАЛЬНИХ ЗАЛАХ БІБЛІОТЕКИ. ДЛЯ ДОСТУПУ НАТИСНІТЬ ПОСИЛАННЯ НИЖЧЕ
Опис
Ключові слова
метрологія, шкала вимірювання, СІ, теорія похибок, систематичні похибки, округлення результатів вимірювань, випадкові похибки, єдність вимірювань, класифікація еталонів, еталонна база України
Бібліографічний опис
Орловська С. Г. Основи метрології, стандартизації і сертифікації. Частина 1 : навч. посіб. / С. Г. Орловська – Одеса : Одес. нац. ун-т ім. І. І. Мечникова, 2018. – 142 с.