INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSIS

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.
dc.contributor.authorKulinich, O. A.
dc.contributor.authorYatsunskiy, I. R.
dc.contributor.authorMarchuk, I. A.
dc.contributor.authorPavlenko, Mykola V.
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич
dc.contributor.authorКулинич, О. А.
dc.contributor.authorЯцунский, Игорь Ростиславович
dc.contributor.authorМарчук, И. А.
dc.contributor.authorПавленко, Николай Николаевич
dc.contributor.authorСминтина, Валентин Андрійович
dc.contributor.authorКулініч, О. А.
dc.contributor.authorЯцунський, Ігор Ростиславович
dc.contributor.authorМарчук, І. О.
dc.contributor.authorПавленко, Микола Миколайович
dc.date.accessioned2012-05-25T08:27:30Z
dc.date.available2012-05-25T08:27:30Z
dc.date.issued2011
dc.descriptionФотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2011. - англ.uk
dc.description.abstractFractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron microscope.A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated.It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes.uk
dc.description.abstractФрактальный анализ был применен для исследования электронных изображений наноструктурированных поверхностей кремния, определения их морфологических особенностей. Были получены значения фрактальной размерности для двух образцов с различной формой наноструктурирования.uk
dc.description.abstractФрактальний аналіз був застосований для дослідження електронних зображень наноструктурованих поверхонь кремнію, визначення їх морфологічних особливостей. Були отримані значення фрактальної розмірності для двох зразків з різною формою наноструктуровання.uk
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/2479
dc.language.isoenuk
dc.publisherAstroprintuk
dc.relation.ispartofseries;Вип.20,С.63-66
dc.subjectnanostructured siliconuk
dc.subjectfractal analysisuk
dc.subjectнаноструктурированный кремнийuk
dc.subjectфрактальный анализuk
dc.subjectнаноструктурований кремнійuk
dc.subjectфрактальний аналізuk
dc.titleINVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSISuk
dc.title.alternativeИССЛЕДОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛИЗАuk
dc.title.alternativeДОСЛІДЖЕННЯ НАНОСТРУКТУРОВАНОЇ ПОВЕРХНІ КРЕМНІЮ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛІЗУuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
фото_20_63-66.pdf
Розмір:
255.75 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics