Structural properties of Nanocrystalline Tin dioxide Films Deposited by electrostatic Spray Pyrolisis Method

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorViter, Roman V.
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.
dc.contributor.authorYevtushenko, Nina H.
dc.date.accessioned2018-06-07T12:41:01Z
dc.date.available2018-06-07T12:41:01Z
dc.date.issued2005
dc.description.abstractThis paper describes investigation of structural properties of nanocrystalline tin dioxide films deposited by electrostatic spray pyrolisis method. Average crystalline size measured from XRD methods was 3,5±0,8 nm and 5,8±0,9 nm for films deposited on glass and alumina substrates. Sensitivity of tin dioxide thin films to ethanol was measured under different ethanol concentrations. Annealing temperature influence on crystalline size and sensitive properties was studied.uk
dc.identifierUDC 535.34.548.0
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/16692
dc.language.isoenuk
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseries;Вип. 14.
dc.subjectSn02uk
dc.subjectthin filmsuk
dc.subjectgas sensitivityuk
dc.subjectethanoluk
dc.titleStructural properties of Nanocrystalline Tin dioxide Films Deposited by electrostatic Spray Pyrolisis Methoduk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
54-57.pdf
Розмір:
187.92 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics