Влияние природы синтетических носителей на геометрию поверхностных комплексов меди(II)

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorРакитская, Татьяна Леонидовна
dc.contributor.authorРаскола, Людмила Анатольевна
dc.contributor.authorТруба, Алла Сергеевна
dc.contributor.authorСтоянова, И. В.
dc.contributor.authorГолубчик, Кристина Олеговна
dc.contributor.authorСербина, М. С.
dc.contributor.authorРакитська, Тетяна Леонідівна
dc.contributor.authorРаскола, Людмила Анатоліївна
dc.contributor.authorТруба, Алла Сергіївна
dc.contributor.authorСтоянова, І. В.
dc.contributor.authorГолубчик, Христина Олегівна
dc.contributor.authorСербіна, М. С.
dc.contributor.authorRakitskaya, Tatiana L.
dc.contributor.authorRaskola, Liudmyla A.
dc.contributor.authorTruba, Alla S.
dc.contributor.authorStoyanova, I. V.
dc.contributor.authorGolubchik, K. O.
dc.contributor.authorSerbina, M. S.
dc.date.accessioned2016-11-23T08:56:51Z
dc.date.available2016-11-23T08:56:51Z
dc.date.issued2016
dc.description.abstractМетодами ИК спектроскопии и спектроскопии диффузного отражения в УФ-видимой области охарактеризованы синтетические носители и установлена геометрия комплексов меди(ІІ), закрепленных на них методом импрегнирования по влагоемкости с последующей сушкой при 110 °С. На синтетических носителях цеолитах – NaX, NaA, KA, а также алюмогеле и силикагеле (КСМГ) медь(II) находится в смешанно-лигандном (H2O, Cl-) октаэдрическом окружении. Носитель вызывает коротковолновое смещение полосы d-d–перехода в ионе Cu(II) в такой последовательности CuCl2/SiO2(КСМГ) (820 нм) > CuCl2/NaA (733 нм) > CuCl2/Al2O3 (720 нм) ≈ CuCl2/NaХ (716 нм) > CuCl2/КА (690 нм).uk
dc.description.abstractМетодами ІЧ-спектроскопії та спектроскопії дифузного відбиття охарактеризовані синтетичні носії та встановлено геометрію комплексів купруму(ІІ), що закріплені на них методом імпрегнування по вологоємкості з наступною сушкою при 110 °С. На синтетичних носіях – цеолітах NaX, NaA, KA, а також алюмогелі та силікагелі (КСМГ) купрум(ІІ) знаходиться в змішано-лігандному (H2O, Cl-) октаедричному оточенні. Носій викликає короткохвильовий зсув смуги d-d–переходу в йоні Cu(II) у такій послідовності CuCl2/SiO2(КСМГ) (820 нм) > CuCl2/NaA (733 нм) > CuCl2/Al2O3 (720 нм) ≈ CuCl2/NaХ (716 нм) > CuCl2/КА (690 нм).uk
dc.description.abstractSynthetic supports and coper(II) complexes anchored on them by an incipient wetness impregnation with subsequent drying at 100 °C have been characterized by IR and UV-vis diffuse reflectance spectroscopy. As can be seen, the synthetic zeolites demonstrate IR bands corresponding to both water molecule vibrations (stretching and deformation) and stretching vibrations of the crystal framework. The 6 main absorption bands in the IR spectrum of SiO2 are characteristic of stretching and deformation vibrations of OH groups, water molecules, and the bonds in Si–O–Si, Si–O, and Si–OН fragments. Absorption bands in the IR spectrum of Al2O3 correspond to stretching vibrations of.OH groups bound to aluminum being in its tetrahedral (AlIV) and octahedral (AlVI) configurations. As appears from the UV-vis diffuse reflectance spectra, on all supports under study, i.e. synthetic zeolites (NaX, NaA, KA), alumogel, and silica gel (KSMG grade), copper(II) is situated in the mixed-ligand (H2O, Cl-) octahedral surroundings. A wavelength corresponding to d-d transition in the Cu(II) ion anchored to the supports under study decreases in the order CuCl2/SiO2(KSMG) (820 nm) > CuCl2/NaA (733 nm) > CuCl2/Al2O3 (720 nm) ≈ CuCl2/NaХ (716 nm) > CuCl2/KA (690 nm). Thus, in addition to the geometry of the surface copper(II) complexes, it has been found that the role of the support is in the short-wave shifting of the band corresponding to d-d transition in the Cu(II) ion showing a distortion in the octahedral symmetry of Cu(II) environment.uk
dc.identifier.citationВісник Одеського національного університету = Odesa National University Heralduk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/8935
dc.language.isoruuk
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseriesХімія;Т. 21, вип. 3(59)
dc.subjectИК-спектроскопияuk
dc.subjectспектроскопия диффузного отраженияuk
dc.subjectсинтетические цеолитыuk
dc.subjectсиликагельuk
dc.subjectалюмогельuk
dc.subjectмедь(ІІ)uk
dc.subjectІЧ-спектроскопіяuk
dc.subjectспектроскопія дифузного відбиттяuk
dc.subjectсинтетичні цеолітиuk
dc.subjectсилікагельuk
dc.subjectкупрум(ІІ)uk
dc.subjectIR-spectroscopyuk
dc.subjectDR UV-vis spectroscopyuk
dc.subjectsynthetic zeolitesuk
dc.subjectsilica geluk
dc.subjectaluminogeluk
dc.subjectcopper(II)uk
dc.titleВлияние природы синтетических носителей на геометрию поверхностных комплексов меди(II)uk
dc.title.alternativeВплив природи синтетичних носіїв на геометрію поверхневих комплексів купруму(ІІ)uk
dc.title.alternativeEffect of the nature of synthetic supports on the geometry of surface copper(II) complexesuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
42-50.pdf
Розмір:
549.3 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Вісник Одеського національного університету. Хімія