SPECTROSCOPY OF POLARISED AND MODULATED LIGHT FOR NANOSIZED TINDIOXIDE FILMS INVESTIGATION

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorMaximenko, L. S.
dc.contributor.authorMatyash, I. E.
dc.contributor.authorRudenko, S. P.
dc.contributor.authorSerdega, B. K.
dc.contributor.authorHrinevych, Viktor S.
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.
dc.contributor.authorFilevska, Liudmila M.
dc.contributor.authorМаксименко, Л. С.
dc.contributor.authorМатяш, И. Е.
dc.contributor.authorРуденко, С. П.
dc.contributor.authorСердега, Б. К.
dc.contributor.authorГриневич, Виктор Сергеевич
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич
dc.contributor.authorФилевская, Людмила Николаевна
dc.contributor.authorМаксименко, Л. С.
dc.contributor.authorМатяш, І. Є.
dc.contributor.authorРуденко, С. П.
dc.contributor.authorСердега, Б. К.
dc.contributor.authorГріневич, Віктор Сергійович
dc.contributor.authorСминтина, Валентин Андрійович
dc.contributor.authorФілевська, Людмила Миколаївна
dc.date.accessioned2010-09-09T10:46:41Z
dc.date.available2010-09-09T10:46:41Z
dc.date.issued2009
dc.descriptionФотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2009.uk
dc.description.abstractThe peculiarities of the Surface Plasmons Resonance (SPR) in nanosized tin dioxide films, deposited on the prism of total interior reflection, were experimentally investigated using methods of the polarized and modulated radiation of light (PM). It was found that the layers, obtained by special technology using polymer materials as structuring additives are the combination of polycrystalline nanosized grains with air pores. This result has confirmed the supposition about the considerable porosity of the obtained layers. The obtained results confirm the considerable PM method’s sensitivity for the aims of material’s optical parameters detecting. Экспериментально с применением методики, основанной на поляризационной модуляции (ПМ) излучения, исследованы особенности поверхностного плазмонного резонанса (ППР) в наноразмерных пленках диоксида олова, нанесенных на поверхность призмы полного внутреннего отражения. Исследуемые слои являются сочетанием поликристаллических наноразмерных зерен с воздушными порами, что подтвердило первоначальное предположение о значительной пористости полученных с использованием полимеров пленок двуокиси олова. Полученные результаты свидетельствуют о значительной чувствительности метода ПМ в определении оптических параметров материала. Експериментально із застосуванням методики, заснованої на поляризаційній модуляції (ПМ) випромінювання, досліджен і особливості поверхневого плазмонного резонансу (ППР) у нанорозмірних плівках діоксиду олова, нанесених на поверхню призми повного внутрішнього відбиття. Досліджувані шари є сполученням полікристалічних нанорозмірних зерен з повітряними порами, що підтвердило первісне припущення про значну пористість отриманих з використанням полімерів плівок двоокису олова. Отримані результати свідчать про значну чутливість методу ПМ у визначенні оптичних параметрів матеріалу.uk
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/251
dc.language.isoenuk
dc.publisherАстропринтuk
dc.relation.ispartofseries;№ 18. - С. 24 - 27.
dc.subjectpolarizing modulationuk
dc.subjectthin filmuk
dc.subjecttin dioxideuk
dc.subjectполяризационная модуляцияuk
dc.subjectтонкие пленкиuk
dc.subjectдвуокись оловаuk
dc.subjectполяризаційна модуляціяuk
dc.subjectтонкі плівкиuk
dc.subjectдвоокис оловаuk
dc.titleSPECTROSCOPY OF POLARISED AND MODULATED LIGHT FOR NANOSIZED TINDIOXIDE FILMS INVESTIGATIONuk
dc.title.alternativeПОЛЯРИЗАЦИОННО-МОДУЛЯЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК ДВУОКИСИ ОЛОВАuk
dc.title.alternativeПОЛЯРИЗАЦІЙНО-МОДУЛЯЦІЙНА СПЕКТРОСКОПІЯ НАНОРОЗМІРНИХ ПЛІВОК ДВООКИСУ ОЛОВАuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
fotoel_18_2009_24-27.pdf
Розмір:
116.66 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.82 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics