CURRENT FLOW PROCESS SIMULATION IN METAL-SILICON STRUCTURES

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorKulinich, O. A.
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.
dc.contributor.authorGlauberman, Mykhailo A.
dc.contributor.authorChemeresiuk, Heorhii H.
dc.contributor.authorYatsunskiy, I. R.
dc.contributor.authorКулініч, О. А.
dc.contributor.authorСминтина, Валентин Андрійович
dc.contributor.authorГлауберман, Михайло Абович
dc.contributor.authorЧемересюк, Георгій Гаврилович
dc.contributor.authorЯцунський, Ігор Ростиславович
dc.contributor.authorКулинич, О. А.
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич
dc.contributor.authorГлауберман, Михаил Аббович
dc.contributor.authorЧемересюк, Георгий Гаврилович
dc.contributor.authorЯцунский, Игорь Ростиславович
dc.date.accessioned2010-09-10T08:37:30Z
dc.date.available2010-09-10T08:37:30Z
dc.date.issued2006
dc.descriptionФотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт, 2006.uk
dc.description.abstractThe model of current flow process simulation in metal-silicon structures with used modern method of investigation within the limits of thermo-electric, drift-diffusion and tunnel-resonant theories and it bases on barrier properties of structural defects. В роботі на основі проведених досліджень за допомогою сучасних методів запропонована фізико-математична модель струмопереносу в структурах метал-кремній в межах термоелектронної, дрейфово-дифузіоної та тунельно- резонансних теорій і основана на бар'єрних властивостях структурних дефектів. В данной роботе на основе исследований, проведенных с помощью современных методов, предложена физико- математическая модель токопереноса в структурах металл-кремний в рамках термоэлектронной, дрейфово-дифузио- ной и туннельно-резонансных теорий и она основана на барьерных свойствах структурных дефектов.uk
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/283
dc.language.isoenuk
dc.publisherАстропринтuk
dc.relation.ispartofseries;№ 15. - Р. 84 - 88.
dc.subjectsiliconuk
dc.subjectmetaluk
dc.subjectmodeluk
dc.subjectcurrentuk
dc.subjectdislocationuk
dc.subjectкремнійuk
dc.subjectметалuk
dc.subjectмоделюванняuk
dc.subjectструмопереносuk
dc.subjectкремнийuk
dc.subjectметаллuk
dc.subjectмоделированиеuk
dc.subjectтокопереносuk
dc.titleCURRENT FLOW PROCESS SIMULATION IN METAL-SILICON STRUCTURESuk
dc.title.alternativeМОДЕЛЮВАННЯ ПРОЦЕСУ СТРУМОПЕРЕНОСУ В СТРУКТУРАХ МЕТАЛ-КРЕМНІЙuk
dc.title.alternativeМОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССА ТОКОПЕРЕНОСА В СТРУКТУРАХ МЕТАЛЛ-КРЕМНИЙuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
fotoel_15_2006_84-88.pdf
Розмір:
1.37 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.82 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics