Перегляд за Автор "Butenko A. F."

Зараз показуємо 1 - 3 з 3
  • Ескіз
    Документ
    Equilibrium parameters of a structured n-hexadecane layer
    (Одеський національний університет імені І. І. Мечникова, 2017) Altoiz Boris A.; Popovskii A.Yu.; Butenko A. F.; Алтоиз, Борис Анатольевич; Поповский, А. Ю.; Бутенко, А. Ф.; Алтоіз, Борис Анатолійович; Поповський, О. Ю.; Бутенко, О. Ф.
    The temperature dependences of the structural characteristics of the quasi-liquidcrystalline n-hexadecane layers − their equilibrium thickness and the degree of orientational order were determined by such optical methods as measurements of admixture dichroism and the anisotropy of heterophase interlayers. The values of these epitropic liquid-crystalline layer parameters were compared with those established earlier in rheological experiments.
  • Ескіз
    Документ
    Методика исследования оптической анизотропии неоднородных микронных прослоек
    (Одесский национальный университет имени И. И. Мечникова, 2006) Поповский, А. Ю.; Кириян, С. В.; Алтоиз, Борис Анатольевич; Бутенко, А. Ф.; Поповській, О. Ю.; Кіріян, С. В.; Алтоіз, Борис Анатолійович; Бутенко, А. Ф.; Popovskii A.Yu.; Kiriyan Sergiy V.; Altoiz Boris A.; Butenko A. F.
    Описана методика исследования "щелевым световодом переменной толщины" двулучепреломления в микронных прослойках жидкости,содержащих оптически анизотропные слои. Проанализированы основные факторы, определяющие погрешности измерений. Описується методика дослідження щілинним світловодом змінної товщини двопромінезаломлення у мікронних прошарках рідини, які містять оптично анізотропні шари. Проаналізовані основні фактори,що впливають на точність експериментів. The variable thickness plane light-guide method of light birefringence investigation in microns liquid interlayers, which consist of optically anisotropic wall-adjacent layers, is described. The main factors that determine the accuracy of measurements are analuzed.
  • Ескіз
    Документ
    Ротационный вискозиметр для исследования микронных прослоек
    (Одесский национальный университет имени И. И. Мечникова, 2005) Алтоиз, Борис Анатольевич; Асланов, Сергей Константинович; Бутенко, А. Ф.; Алтоіз, Борис Анатолійович; Асланов, Сергій Костянтинович; Бутенко, А. Ф.; Altoiz Boris A.; Aslanov, Sergei K.; Butenko A. F.
    Ротационным вискозиметром исследована зависимость вязкости тонких (4-50мкм) неоднородных прослоек,включающих пристенные структурированные слои, от скорости сдвигового течения. Рассчитаны основные реологические свойства ЭЖК слоя: коэффициент вязкости, характер "срезания" слоя со скоростью течения и "гидродинамическая" прочность" в моделях "жеского" и "вязкого" слоя. Ротаційним віскозиметром досліджена залежність в'язкості тонких (4-50 мкм) неоднорідних прошарків, які включають пристінні структуровані шари, від швидкості зсувної течії. Розраховані основні реологічні властивості ЕРК шару: коефіцієнт в'язкості, характер "зрізу" шару зі швидкістю течії та "гідродинамічна стійкість" у моделях "жорсткого" та "в'язкого" шару. Rotational viscometer was used for measuring of the viscosity dependence of thin (4-50 mum) inhomogeneous interlayer, inclusive structured wall-adjacent layers, on the velocity of shear flow. The main rheological characteristics of ELC layers, such as viscosity index, the character of the layer "shearing" with the velocity flow and the hydrodynamic strength according to the models of "hard" and "viscous" layer were calculated.