Статистика для EVOLUTION OF STRUCTURAL DEFECTS IN SILICON CAUSED BY HIGH-TEMPERATURE OXIDATION
Всього відвідувань
| views | |
|---|---|
| EVOLUTION OF STRUCTURAL DEFECTS IN SILICON CAUSED BY HIGH-TEMPERATURE OXIDATION | 75 |
Всього відвідувань за місяць
| views | |
|---|---|
| травня 2024 | 0 |
| червня 2024 | 0 |
| липня 2024 | 0 |
| серпня 2024 | 0 |
| вересня 2024 | 0 |
| жовтня 2024 | 0 |
| листопада 2024 | 0 |
Скачувань файлів
| views | |
|---|---|
| Fotoelectronika_21.43-49.pdf | 57 |
Топ за країнами
| views | |
|---|---|
| Сполучені Штати | 61 |
| Вʼєтнам | 4 |
| Україна | 3 |
| Греція | 2 |
| Китай | 1 |
| Росія | 1 |
Топ за містами
| views | |
|---|---|
| Oakland | 39 |
| Redwood City | 10 |
| Hanoi | 4 |
| Ashburn | 3 |
| Fairfield | 3 |
| Athens | 2 |
| Chernivtsi | 2 |
| Des Moines | 2 |
| Louisville | 2 |
| Boardman | 1 |
| Chelny | 1 |
| Odessa | 1 |