Температурная зависимость параметров кремниевых МОП и РIN-фотоприемных структур при наличии структурных дефектов

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич
dc.contributor.authorКулинич, О. А.
dc.contributor.authorГлауберман, Михаил Аббович
dc.contributor.authorЧемересюк, Г. Г.
dc.contributor.authorЯцунский, И. Р.
dc.contributor.authorСвиридова, О. В.
dc.contributor.authorGlauberman, Mykhailo A.
dc.contributor.authorГлауберман, Михайло Абович
dc.date.accessioned2012-10-15T10:43:47Z
dc.date.available2012-10-15T10:43:47Z
dc.date.issued2006
dc.descriptionСенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2) : Мiжнар. наук.-техн. конф., 26-30червня 2006 р.; Одеса: тези доповідей / ОНУ iм. I. I. Мечникова, [та ін.]. – Одеса: Астропринт, 2006.uk
dc.description.abstractНа основании исследований графиков зависимости вышеперечисленных параметров от температуры установлено,что структурные дефекты влияют не только на значения параметров,но и на ход температурных зависимое гей.Определены пороговые плотности дислокаций,влияющие на параметры,и температурный диапазон,когда различные механизмы влияния на параметры вызывают их одинаковые изменения.uk
dc.identifier.citationСенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2)uk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/2618
dc.language.isoruuk
dc.relation.ispartofseries;Мiжнар. наук.-техн. конф.
dc.titleТемпературная зависимость параметров кремниевых МОП и РIN-фотоприемных структур при наличии структурных дефектовuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
262+.PDF
Розмір:
734.04 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Статті та доповіді ФМФІТ