Вимірювання амплітудної та фазової модуляцій та їх фазового зсуву в процесі голографічного запису тривимірних дифракційних решіток: методика і фінансово-економічні аспекти розвитку
Альтернативна назва
Measurement of amplitude and phase modulations and their phase shift in the process of holographic recording of three-dimensional diffraction gratings: methodology and financial and economic aspects of development
Файли
Дата
2025
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
ISSN
2567-5273
E-ISSN
Назва тому
Видавець
Sergeieva & Co
Анотація
Для уявлення про механізми запису 3D голограм пропонована методика вимірювання коефіцієнта поглинання Δα та показника заломлення Δn в об’ємі реєструючого середовища у полі двох інтерферуючих світлових хвиль рівної інтенсивності безпосередньо в процесі реєстрації 3D дифракційної решітки. Для вимірювання Δα та Δn, а також зміщення дифракційної решітки щодо записуючої її інтерференційної картини в процесі реєстрації дифракційної решітки вимірюється не тільки інтенсивність пучків світла 𝐼1 і 𝐼2, що вийшли з дифракційної решітки, здійснюється також аналіз залежності 𝐼1 і 𝐼2 від фазового зсуву дифракційної решітки щодо записуючої інтерференційної картини. Цій фазовий зсув складеться або за рахунок зміщення інтерференційної картини відносно дифракційної решітки, що досягається примусовою короткочасною (порівняно з тривалістю запису решітки) зміною оптичної довжини шляху одного з записуючих променів, або за рахунок зміщення дифракційної решітки щодо записуючої її інтерференційної картини. Залежності 𝐼1 і 𝐼2 від фазового зсуву дифракційної решітки щодо записуючої інтерференційної картини від 0 до 2π реалізовані в халькогенідних склоподібних напівпровідниках та в лужно-галоїдних кристалах. Наприкінці розглянуто фінансово-економічні аспекти розвитку інноваційно-інвестиційної діяльності та відмічена зацікавленість і роль держави відповідно до інтелектуально-орієнтованого вектору розвитку методів голографії.
To understand the mechanisms of recording 3D holograms, a method of measuring the absorption coefficient Δα and the refractive index Δn in the volume of the recording medium in the field of two interfering light waves of equal intensity directly during the recording of a 3D diffraction grating is proposed. To measure Δα and Δn, as well as the displacement of the diffraction grating relative to its recording interference pattern, during the recording of the diffraction grating, not only the intensity of the light beams 𝐼1 and 𝐼2, that emerged from the diffraction grating is measured, but also the dependence of 𝐼1 and 𝐼2 on the phase shift of the diffraction grating relative to the recording interference pattern is analyzed. This phase shift will be formed either by shifting the interference pattern relative to the diffraction grating, which is achieved by a forced short-term (compared to the duration of the grating recording) change in the optical path length of one of the recording rays, or by shifting the diffraction grating relative to the interference pattern recording it. The dependencies of 𝐼1 and 𝐼2 on the phase shift of the diffraction grating relative to the recording interference pattern from 0 to 2π are implemented in chalcogenide glassy semiconductors and in alkali halide crystals. Finally, the financial and economic aspects of the development of innovative and investment activities are considered and the interest and role of the state in accordance with the intellectually oriented vector of the development of holography methods are noted.
To understand the mechanisms of recording 3D holograms, a method of measuring the absorption coefficient Δα and the refractive index Δn in the volume of the recording medium in the field of two interfering light waves of equal intensity directly during the recording of a 3D diffraction grating is proposed. To measure Δα and Δn, as well as the displacement of the diffraction grating relative to its recording interference pattern, during the recording of the diffraction grating, not only the intensity of the light beams 𝐼1 and 𝐼2, that emerged from the diffraction grating is measured, but also the dependence of 𝐼1 and 𝐼2 on the phase shift of the diffraction grating relative to the recording interference pattern is analyzed. This phase shift will be formed either by shifting the interference pattern relative to the diffraction grating, which is achieved by a forced short-term (compared to the duration of the grating recording) change in the optical path length of one of the recording rays, or by shifting the diffraction grating relative to the interference pattern recording it. The dependencies of 𝐼1 and 𝐼2 on the phase shift of the diffraction grating relative to the recording interference pattern from 0 to 2π are implemented in chalcogenide glassy semiconductors and in alkali halide crystals. Finally, the financial and economic aspects of the development of innovative and investment activities are considered and the interest and role of the state in accordance with the intellectually oriented vector of the development of holography methods are noted.
Опис
Ключові слова
дифракційна решітка, голограма, інтерференційна картина, фазовий зсув, амплітудна, фазова модуляція, diffraction grating, hologram, interference pattern, phase shift, amplitude, phase modulation
Бібліографічний опис
Вимірювання амплітудної та фазової модуляцій та їх фазового зсуву в процесі голографічного запису тривимірних дифракційних решіток: методика і фінансово-економічні аспекти розвитку / О. Ю. Ахмеров, С. О. Жуков, О. М. Савастєєва, О. В. Тюрин // Modern Engineering and Innovative Technologies. – 2025. – Iss 38, prt. 1. – P. 73–87.
ORCID:
УДК
512.64+514.12У