Дослідження та реалізація методів виявлення дефектів мікролітографічних проектів на основі нейромережевних підходів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМихаленко, Владислав Володимирович
dc.date.accessioned2020-04-29T10:30:24Z
dc.date.available2020-04-29T10:30:24Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractРобота присвячена розробці програмних засобів на тему «Дослідження та реалізація методів виявлення дефектів мікролітографічних проектів на основі нейромережевих підходів». Мета роботи – розробка та реалізація підходу для виявлення та класифікації дефектних областей в мікролітографічних проектних рішеннях. Об’єктом дослідження в межах даної роботи є мікролітографічні проекти у форматі GDSII з розміщеною в них графічною інформацією. Предмет дослідження – дефекти, що виникають у процесі виготовлення мікрочіпів, а саме експонування маски на напівпровідникову підкладку. У результаті роботи було розроблено програмні модулі, що реалізують витягнення попередньо виділених у GDSII файлі дефектних областей, спрощену симуляцію процесу мікролітографії та кодування змісту GDSII-проектів у вигляді спеціалізованих структур – супер-пікселів. На базі отриманих результатів було проведено суб’єктивну класифікацію критичних областей і побудовано навчальну вибірку для згорткового нейромежевого класифікатору.uk_UA
dc.identifier.citationМихаленко, В. В. Дослідження та реалізація методів виявлення дефектів мікролітографічних проектів на основі нейромережевних підходів : дипломна робота магістра / В. В. Михаленко. – Одеса, 2018. – 80 с.uk_UA
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/27908
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk_UA
dc.subject6.050102 комп’ютерна інженеріяuk_UA
dc.subjectмікролітографіяuk_UA
dc.subjectPattern Matchinguk_UA
dc.subjectMachine Learninguk_UA
dc.subjectмікрочіпиuk_UA
dc.subjectМЛ-проекти з розміщеною в них графічною інформацієюuk_UA
dc.titleДослідження та реалізація методів виявлення дефектів мікролітографічних проектів на основі нейромережевних підходівuk_UA
dc.title.alternativeResearch and implementation of methods s for detecting defects in microlithographical s projects on the basis of neural network approachesuk_UA
dc.title.alternativeИсследование и реализация методов выявления s дефектов микролитографических проектов на основании нейросетевых подходовuk_UA
dc.typeDiplomasuk_UA
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
6.050102_Mykhalenko Vladyslav Volodymyrovych_1.pdf
Розмір:
750.16 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Факультет математики, фізики та інформаційних технологій