Перегляд за Автор "Procenko, V. O."

Зараз показуємо 1 - 4 з 4
  • Ескіз
    Документ
    ОБЕСПЕЧЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ КОНДУКТОМЕТРИЧЕСКИХ СИСТЕМ С ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫМИ ДАТЧИКАМИ
    (Одеський національний університет, 2011) Мельник, В. Г.; Дзядевич, С. В.; Новик, А. И.; Погребняк, В. Д.; Слицкий, А. В.; Лепих, Ярослав Ильич; Ленков, С. В.; Проценко, В. О.; Новік, А. І.; Сліцький, О. В.; Лепіх, Ярослав Ілліч; Проценко, В. О.; Melnyk, V. G.; Dzyadevych, S. V.; Novik, A. I.; Pogrebnyak, V. D.; Slitskiy, A. V.; Lepikh, Yaroslav I.; Lenkov, S. V.; Procenko, V. O.
    Представлены результаты разработки дифференциальной кондуктометрической системы с автоматической диагностикой параметров эквивалентных схем замещения первичных преобразователей для обеспечения достаточного подавления неинформативных воздействий факторов среды.
  • Ескіз
    Документ
    Обеспечение метрологической надежности кондуктометрических систем с дифференциальными датчиками.
    (Астрапринт., 2011) Мельник, В. Г.; Дзядевич, С. В.; Новик, А. И.; Погребняк, В. Д.; Слицкий, А. В.; Лепих, Ярослав Ильич; Ленков, С. В.; Проценко, В. О.; Дзядевич, С. В.; Новік, А. І.; Сліцький, О. В.; Лепіх, Ярослав Ілліч; Лєнков, С. В.; Проценко, В. О.; Melnyk, V. G.; Dzyadevych, S. V.; Novik, A. I.; Pogrebnyak, V. D.; Slitskiy, A. V.; Lepikh, Yaroslav I.; Lenkov, S. V.; Procenko, V. O.
    Представлены результаты разработки дифференциальной кондуктометрической системы с автоматической диагностикой параметров эквивалентных схем замещения первичных преобразователей для обеспечения достаточного подавления неинформативных воздействий факторов среды.
  • Ескіз
    Документ
    ТЕОРЕТИЧНІ АСПЕКТИ МОДЕЛЮВАННЯ ТА ПРОЕКТУВАННЯ РЕЗОНАТОРНИХ ЗОНДІВ ДЛЯ СКАНУЮЧОЇ МІКРОХВИЛЬОВОЇ МІКРОСКОПІЇ
    (2011) Гордієнко, Ю. О.; Ларкін, С. Ю.; Лепіх, Ярослав Ілліч; Лєнков, С. В.; Проценко, В. О.; Ваків, М. М.; Gordienko, Yu. E.; Lеrkin, S.Yu.; Lenkov, S. V.; Procenko, V. O.; Vakiv, M. M.; Гордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Лепих, Ярослав Ильич; Ленков, С. В.; Проценко, В. О.; Вакив, М. М.; Lepikh, Yaroslav I.
    У роботі обґрунтовано загальні підходи до оцінки впливу характеристик резонаторних зондів на просторову роздільну здатність та контрастність зображень в скануючій мікрохвильовій мікроскопії. Зокрема, якісно і кількісно установлені залежності сигналів сканування, що пов язані зі зміною об єктом добротності та резонансної частоти зондів, від геометрії коаксіальної апертури, форми вістря та величини зазору між зондом і об єктом. Для фізичного обґрунтування цих залежностей чисельно досліджено розподіл ближнього поля при різних характеристиках. Особливо відзначено перехід від «трубчатого» характеру розподілу поля при сплощеному вістрі до квазігаусового при наданні йому сферичної форми.Встановлені аспекти можно використовувати при оптимальному проектуванні резонаторних зондів для мікрохвильових мікроскопів різного призначення.
  • Ескіз
    Документ
    ІНФОРМАЦІЙНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ВІРТУАЛЬНОЇ ЛАБОРАТОРІЇ АВТОМАТИЗОВАНОГО ПРОЕКТУВАННЯ ПРИЛАДІВ ТА ІНТЕЛЕКТУАЛЬНИХ СИСТЕМ
    (Астрапринт, 2011) Галелюка, І. Б.; Дзядевич, С. В.; Дружинін, А. О.; Євтух, А. А.; Лепіх, Ярослав Ілліч; Проценко, В. О.; Романов, В. О.; Галелюка, И. Б.; Дзядевич, С. В.; Дружинина, А. А.; Евтух, А. А.; Лепих, Ярослав Ильич; Проценко, В. А.; Романов, В. А.; Galelyuka, I. B.; Dzyadevych, S. V.; Dguzhynin, A. O.; Yevtuh, A. A.; Lepikh, Yaroslav I.; Procenko, V. O.; Romanov, V. O.
    В статті наведено короткі відомості про віртуальну лабораторію автоматизованого проектування приладів та інтелектуальних систем. Описано важливу функцію віртуально ї лабораторії інформаційне забезпечення. Показано, що у тісній співпраці науководосл ідних інститутів та університетів можливо розробити та реалізувати бази даних, які становитимуть ядро інформаційного забезпечення такої складної системи, як віртуальна лабораторія автоматизованого проектування. Увагу зосереджено на розробленій бібліотеці готових рішень, яка містить інформацію про розроблені та реалізовані вітчизняними фахівцями датчики,прилади та інтелектуальні системи.