Перегляд за Автор "Marchuk, I. A."

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    FACTORS INFLUENCING THE YIELD STRESS OF SILICON
    (Астропринт, 2010) Smyntyna, Valentyn A.; Kulinich, O. A.; Iatsunskyi, Igor R.; Marchuk, I. A.; Смынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Яцунский, Игорь Ростиславович; Марчук, И. А.
    Factors influencing the yield stress of silicon are investigated with advanced research methods. It is shown that elastic stresses which are concentrated at the structural defects (dislocation, crystalline grain boundary, dendrite and lamella) will influence on the yield stress of silicon. Используя современные методы исследования, определенны факторы, влияющие на величину порога пластичности монокристаллического кремния. Наряду с известными факторами, величина порога пластичности будет зависеть от упругих напряжений, локализованных в области нахождения структурных дефектов.
  • Ескіз
    Документ
    INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSIS
    (Astroprint, 2011) Smyntyna, Valentyn A.; Kulinich, O. A.; Yatsunskiy, I. R.; Marchuk, I. A.; Pavlenko, Mykola V.; Смынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Яцунский, Игорь Ростиславович; Марчук, И. А.; Павленко, Николай Николаевич; Сминтина, Валентин Андрійович; Кулініч, О. А.; Яцунський, Ігор Ростиславович; Марчук, І. О.; Павленко, Микола Миколайович
    Fractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron microscope.A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated.It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes.