Смынтына, Валентин АндреевичКулинич, О. А.Глауберман, Михаил АббовичЧемересюк, Г. Г.Яцунский, И. Р.Свиридова, О. В.Glauberman, Mykhailo A.Глауберман, Михайло Абович2012-10-152012-10-152006Сенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2)https://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/2618Сенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2) : Мiжнар. наук.-техн. конф., 26-30червня 2006 р.; Одеса: тези доповідей / ОНУ iм. I. I. Мечникова, [та ін.]. – Одеса: Астропринт, 2006.На основании исследований графиков зависимости вышеперечисленных параметров от температуры установлено,что структурные дефекты влияют не только на значения параметров,но и на ход температурных зависимое гей.Определены пороговые плотности дислокаций,влияющие на параметры,и температурный диапазон,когда различные механизмы влияния на параметры вызывают их одинаковые изменения.ruArticle