Nikola, Ludmyla V.Никола, Людмила ВалерьевнаНікола, Людмила Валеріївна2010-10-132010-10-132007Фотоэлектроника = Photoelectronicshttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/919Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2007.On the basis of calculation in characteristics of Auger decay in the atomic systems and solids within S-matrix Gell- Mann and Low formalism there are presented data on the cross-sections of ionization of internal shells for a number of atoms (Na,Si) and energies of Auger electron transitions in solids (Na, Si). На основе расчета характеристик Оже распада в твердых телах в рамках S-матричного формализма Гелл-Мана и Лоу получены данные по сечениям ионизации внутренних оболочек атомов (Na,Si) из энергий Оже переходов в твердых телах (Na, Si). На підставі розрахунку характеристик Оже розпаду в твердих тілах в межах S-матричного формалізму Гелл- Мана та Лоу отримані данні по перерізам іонізації внут-рішніх оболонок ряду атомів (Na,Si) та енергій Оже переходів у твердих тілах (Na, Si).enArticle