Барладян, Д. В.Балан, В. В.Снігур, Денис ВасильовичSnigur, Denys V.2025-09-052025-09-052025Барладян Д. В. Визначення Ge(IV) спектроскопічними методами після його міцелярно-екстракційного концентрування / Д. В. Барладян, В. В. Балан, Д. В. Снігур // 81-а звітна студентська наукова конференція ОНУ імені І. І. Мечникова. Секція «Хімія» [Електронний ресурс] : зб. тез доп. (Одеса, 23–25 квіт. 2025 р.) / за ред. к. х. н., доц. В. В. Менчука, к. х. н., доц. А. Ф. Тимчук. – Електрон. текст. дані (1 файл : 0,8 МБ). – Одеса : Одес. нац. ун-т ім. І. І. Мечникова, 2025. – С. 12.https://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/42249Сучасні аналітичні методи визначення Ge(IV) включають мас-спектрометрію, оптико-емісійну спектроскопію з індуктивно зв’язаною плазмою, атомно-абсорбційну спектроскопію з електротермічною атомізацією та гідридною генерацією, рентгенофлуоресцентний аналіз, а також спектрофотометрію. Водночас, спектрофотометричне визначення Ge(IV) обмежене через низьку селективність реакцій. Проблему селективності можна вирішити шляхом використання атомно-абсорбційної спектроскопії, а чутливість методу підвищити завдяки попередньому концентруванню аналіту. Серед методів концентрування слідових кількостей Ge(IV) особливе місце займає міцелярна екстракція.ukметоди визначення Ge(IV)селективність реакційконцентрування слідових кількостейміцелярна екстракція102 Хімія (ОПП Хімія)Article