Гордиенко, Ю. Е.Бондаренко, И. Н.Лепих, Ярослав ИльичПроказа, А. М.Гордієнко, Ю. О.Бондаренко, І. М.Лепіх, Ярослав ІллічПроказа, О. М.Gordienko, Yu. E.Bondarenko, I. N.Lepikh, Yaroslav I.Prokaza, A. M.2015-03-192015-03-192014Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologieshttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/6137Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologies : наук.-техн. журналСозданы теоретические основы разработки нового поколения ближнеполевых микроволновых датчиков для контроля сред и функциональных материалов с широким спектром локальности, которые являются базой высоколокальной СВЧ сенсорики. Системно исследованы характеристики преобразования таких датчиков, показана связь потерь на излучение с размерами апертуры зонда и электрофизическими параметрами объекта исследования. Предложен способ решения задачи одновременного повышения локальности и чувствительности датчиков. Разработана схема выделения и обработки сигналов измерительной информации с использованием современных достижений аналого-цифрового преобразования и микропроцессорной техникиСтворено теоретичні передумови розробки нового покоління ближньопольових мікрохвильових датчиків для контролю середовищ і функціональних матеріалів з широким спектром локальності, які є базою високолокальної НВЧ сенсорики. Системно досліджено характеристики перетворення таких датчиків, показано зв'язок втрат на випромінювання з розмірами апертури зонда і електрофізичними параметрами об'єкта дослідження. Запропоновано спосіб вирішення задачі одночасного підвищення локальності і чутливості датчиків. Розроблено схему виділення та обробки сигналів вимірювальної інформації з використанням сучасних досягнень аналого-цифрового перетворення і мікропроцесорної технікиTheoretical foundations of development of short-distance field microscopy microwave gauges of new generation for the control of medium and functional materials with a wide spectrum of localness that are the base of highlocal microwave sensorics are created. Such gauges transformation characteristics are systemically investigated, connection of losses on radiation with the probe aperture sizes and the investigated object electrophysical parameters is shown. The way of the solving of a problem of simultaneous gauges localness and sensitivity increase is offered. The pattern of measuring information signals displaying and processing with the use of modern achievements of analog-digital transformation and microprocessor engineering is developedruсенсорикаближнеполевая микроскопияапертуранакопительная областьхарактеристики преобразованиясенсорикаближньопольова мікроскопіяапертураобласть накопиченняхарактеристики перетворенняsensoricsshort-distance field microscopythe aperturestorage areatransformation characteristicsArticle