An Interferometric Method of Inner surface Morphology Investigation in Porous Glass

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorGevelyuk, Serhii A.
dc.contributor.authorDoicho, Ihor K.
dc.contributor.authorMak, Vasyl T.
dc.contributor.authorSafronsky, E. D.
dc.contributor.authorVorobyova, V. A.
dc.date.accessioned2018-06-07T13:52:56Z
dc.date.available2018-06-07T13:52:56Z
dc.date.issued2005
dc.description.abstractA method of inner surface morphology investigation in porous glass using modified Michelson’s interferometer is presented. The possibility of residual silica gel detection in pores by interferometric measurements is shown. The method also allows to distinguish the role of compressing and stretching forces in the mechanical deformation of porous samples. The proposed method is convenient to study the effect of additional treatments on the removal of residual silica gel out of porous glasses. Interferometric measurements make it possible to minimize the mechanical deformations of a porous layer on a solid substrate by tuning the layers thickness ratio.uk
dc.identifierUDC 621.315.592
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/16704
dc.language.isoenuk
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseries;Вип. 14.
dc.subjectmechanicaluk
dc.subjectinterferometricuk
dc.subjectmodifieduk
dc.subjectmorphologyuk
dc.titleAn Interferometric Method of Inner surface Morphology Investigation in Porous Glassuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
101-104.pdf
Розмір:
249.26 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Photoelectronics