УЗАГАЛЬНЕНИЙ КОМПЛЕКСНИЙ ПОКАЗНИК ЯКОСТІ КРЕМНІЄВИХ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИХ ПЕРЕТВОРЮВАЧІВ ДЛЯ АПАРАТУРИ СПЕЦІАЛЬНОГО ПРИЗНАЧЕННЯ

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЛєнков, С. В.
dc.contributor.authorЛепіх, Ярослав Ілліч
dc.contributor.authorМокрицький, В. А.
dc.contributor.authorЛукомський, Д. В.
dc.contributor.authorОхрамович, М. М.
dc.contributor.authorLenkov, S. V.
dc.contributor.authorLepikh, Yaroslav I.
dc.contributor.authorMokritsky, V. A.
dc.contributor.authorLukomsky, D. V.
dc.contributor.authorOhramovich, M. M.
dc.contributor.authorЛепих, Ярослав Ильич
dc.date.accessioned2010-09-08T10:27:42Z
dc.date.available2010-09-08T10:27:42Z
dc.date.issued2009
dc.descriptionСенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologies : наук.-техн. журнал. - Одеса : Астропринт - 2009.uk
dc.description.abstractУ даній статті описано новий спосіб аналізу та керування параметрами ФЕП для апаратури спеціального призначення за допомогою узагальненого комплексного показника якості та надійності. Запропонований параметр Q дозволяє не тільки керувати процесом виготовлення кремнієвих ФЕП, але і проводити аналіз рівня їх якості та оцінювати дефектність готових виробів. The new mode of the analysis and management in PhEC parameters for the special purpose equipment with the help of the generalized complex quality and reliability coefficient is described. The proposed parameter Q allows not only to operate silicon PhEC manufacturing process, but also to carry out their quality level analysis and to estimate the finished production deficiency.uk
dc.identifier.citationСенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystemuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/228
dc.publisherАстропринтuk
dc.relation.ispartofseries;№ 19. - С. - 44 - 50.
dc.subjectфотоелектричний перетворювачuk
dc.subjectтехнологічний процесuk
dc.subjectопроміненняuk
dc.subjectтекстуруванняuk
dc.subjectдефектиuk
dc.subjectямки травленняuk
dc.subjectphotoelectric converteruk
dc.subjecttechnological processuk
dc.subjectirradiationuk
dc.subjecttexturinguk
dc.subjectdefectsuk
dc.subjectetching pitsuk
dc.titleУЗАГАЛЬНЕНИЙ КОМПЛЕКСНИЙ ПОКАЗНИК ЯКОСТІ КРЕМНІЄВИХ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИХ ПЕРЕТВОРЮВАЧІВ ДЛЯ АПАРАТУРИ СПЕЦІАЛЬНОГО ПРИЗНАЧЕННЯuk
dc.title.alternativeTHE GENERALIZED COMPLEX QUALITY COEFFICIENT OF SILICON PHOTOELECTRIC CONVERTERS FOR SPECIAL PURPOSE APPARATUSuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
sens4_09_44-50.pdf.pdf
Розмір:
384.42 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.82 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології