Поляризационные характеристики поверхноcтного плазмонного резонанса в нанокластерных пленках SnO2

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorГриневич, Виктор Сергеевич
dc.contributor.authorМаксименко, Л. С.
dc.contributor.authorМатяш, И. Е.
dc.contributor.authorМищук, О. Н.
dc.contributor.authorРуденко, С. П.
dc.contributor.authorСердега, Борис Кирилович
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич
dc.contributor.authorФилевская, Людмила Николаевна
dc.contributor.authorHrinevych, Viktor S.
dc.contributor.authorMaksymenko, L. S.
dc.contributor.authorMatiash, I. E.
dc.contributor.authorMyshchuk, O. N.
dc.contributor.authorRudenko, S. P.
dc.contributor.authorSerdeha, B. K.
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.
dc.contributor.authorFilevska, Liudmila M.
dc.date.accessioned2017-11-28T08:32:07Z
dc.date.available2017-11-28T08:32:07Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractМетодом поляризационной модуляции электромагнитного излучения исследованы особенности внутреннего отражения, обусловленные поверхностным плазмонным резонансом в наноразмерных пленках, содержащих кластеры дефектного диоксида олова в диэлектрической матрице стехиометрического состава. В диапазоне длин волн 2 = 400—1600 нм измерены угловые и спектральные характеристики коэффициентов отражения R2 и R2p излучения s- и р-поляризации и их поляризационной разности р = R2—R2p. Полученные экспериментальные характеристики р(6, 2) (в — угол падения излучения) отражают особенности оптических свойств, связанные со структурой и морфологией пленок. Обнаружены поверхностные плазмон-поляритоны, а также локальные плазмоны, возбуждаемые s- и р-поляризованным излучением, определены их частотные и релаксационные свойства. Установлена структурная чувствительность методики исследования поверхностного плазмонного резонанса для пленок диоксида олова.uk
dc.description.abstractMethods of modulation of polarized electromagnetic radiation were used in the work for the surface plasmon resonance phenomenon investigation. Peculiarities of internal reflections, caused by surface plasmon resonance in nanosized composite films containing faulty tin dioxide clusters in stoichiometric matrix were studied. The angle and spectral characteristics of R2S and R2p reflection indexes of radiation with s- and p-polarization, both with their polarization difference p = R2 — R2 are measured in the wavelength range of 2 = 400—1600 nm. The obtained experimental characteristics p(6, 2) (в — angle of incidence) reflect peculiarities of the optical properties connected with film structure and morphology. Both surface plasmon-polaritons and local plasmons excited by s- and p-polarized radiation were detected. Their frequency and relaxation properties were obtained. The surface plasmon rasonance investigation procedure is established to be sensitive for tin dioxide film structure.uk
dc.identifier.citationФизика и техника полупроводниковuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/11565
dc.language.isoruuk
dc.relation.ispartofseries;Т. 45, № 11.
dc.subjectэлектромагнитное излучениеuk
dc.subjectполяризационная модуляцияuk
dc.subjectкластерыuk
dc.subjectплазмон-поляритоныuk
dc.titleПоляризационные характеристики поверхноcтного плазмонного резонанса в нанокластерных пленках SnO2uk
dc.title.alternativePolarizataion chracteristics of surface plasmon resonance in Sn02 nanocluster filmsuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
75-65.pdf
Розмір:
290.53 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити
Зібрання
Статті та доповіді ФМФІТ