Основы высоколокальной СВЧ сенсорики

dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.authorЛепих, Ярослав Ильич
dc.contributor.authorПроказа, А. М.
dc.date.accessioned2019-03-27T10:14:32Z
dc.date.available2019-03-27T10:14:32Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractСВЧ сенсорика исходит из радиоволновых методов контроля диэлектрических материалов и сред. Особое развитие в 1960-1990 годах получили безэлктродные методы и техника контроля параметров полупроводниковых материалов . Однако, на современном этапе возникла необходимость существенного увеличения локальности такого контроля. Исходя из принципа Аббе, сформулированного в физической оптике, классический подход в проектировании СВЧ чувствительных элементов (первичных измерительных преобразователей) исключает субмикронную локальность.uk
dc.identifier.citation6-та Міжнародна наукова-технічна конференція "Сенсорна електроніка та мікросистемні технології"(СЕМСТ-6) (з виставкою розробок та промислових зразків сенсорів), Україна, Одеса, 29 вересня - 3 жовтня 2014 р. : тези доповідей : Конф. присвяч.150-й річниці Одеського нац. ун-ту ім. І.І. Мечникова і 100-річчю науки про напівпровідники / гол. ред.: В. А. Сминтина; редкол.: О. Є. Бєляєв [та ін.]; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова, Одеський нац. ун-т ім. І.І. Мечникова. – Одеса : Астропринт, 2014. – 265 с.uk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/23340
dc.language.isoruuk
dc.publisherОдеський національний університет імені І. І. Мечниковаuk
dc.subjectсенсорикаuk
dc.subjectближнеполевая микроскопияuk
dc.subjectапертураuk
dc.subjectнакопительная областьuk
dc.subjectхарактеристики преобразованияuk
dc.titleОсновы высоколокальной СВЧ сенсорикиuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
27-28.pdf
Розмір:
195.42 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: