Ротационный вискозиметр для исследования микронных прослоек

dc.contributor.authorАлтоиз, Борис Анатольевич
dc.contributor.authorАсланов, Сергей Константинович
dc.contributor.authorБутенко, А. Ф.
dc.contributor.authorАлтоіз, Борис Анатолійович
dc.contributor.authorАсланов, Сергій Костянтинович
dc.contributor.authorБутенко, А. Ф.
dc.contributor.authorAltoiz Boris A.
dc.contributor.authorAslanov, Sergei K.
dc.contributor.authorButenko A. F.
dc.date.accessioned2010-09-20T11:13:54Z
dc.date.available2010-09-20T11:13:54Z
dc.date.issued2005
dc.descriptionФизика аэродисперсных систем: межвед.научный сборник / Одесский национальный университет имени И.И. Мечникова, кафедра теплофизики. - Одесса, 1969. –uk
dc.description.abstractРотационным вискозиметром исследована зависимость вязкости тонких (4-50мкм) неоднородных прослоек,включающих пристенные структурированные слои, от скорости сдвигового течения. Рассчитаны основные реологические свойства ЭЖК слоя: коэффициент вязкости, характер "срезания" слоя со скоростью течения и "гидродинамическая" прочность" в моделях "жеского" и "вязкого" слоя. Ротаційним віскозиметром досліджена залежність в'язкості тонких (4-50 мкм) неоднорідних прошарків, які включають пристінні структуровані шари, від швидкості зсувної течії. Розраховані основні реологічні властивості ЕРК шару: коефіцієнт в'язкості, характер "зрізу" шару зі швидкістю течії та "гідродинамічна стійкість" у моделях "жорсткого" та "в'язкого" шару. Rotational viscometer was used for measuring of the viscosity dependence of thin (4-50 mum) inhomogeneous interlayer, inclusive structured wall-adjacent layers, on the velocity of shear flow. The main rheological characteristics of ELC layers, such as viscosity index, the character of the layer "shearing" with the velocity flow and the hydrodynamic strength according to the models of "hard" and "viscous" layer were calculated.uk
dc.identifier.citationФизика аэродисперсних системuk
dc.identifier.urihttps://dspace.onu.edu.ua/handle/123456789/458
dc.publisherОдесский национальный университет имени И. И. Мечниковаuk
dc.relation.ispartofseries;Вып. 42. - С. 53 - 65.
dc.titleРотационный вискозиметр для исследования микронных прослоекuk
dc.title.alternativeРотаційний віскозиметр для дослідження мікронних прошарківuk
dc.title.alternativeRotational viscometer for measuring of micron interlayersuk
dc.typeArticleuk
Файли
Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
ФАС-42_53-65.pdf
Розмір:
1.14 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.82 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: