Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/957
Title: Исследование зависимости диэлектрической проницаемости тонких прослоек жидкости от их толщины и температуры
Other Titles: Дослідження залежності діелектричної проникності тонких прошарків рідин від їхньої товщини та температури
Investigation of permitivity in the flat interlayers of liquids as a function of their thickness and temperature
Authors: Народицкая, Т. В.
Поповский, Ю. М.
Народицька, Т. В.
Поповський, Ю. М.
Naroditskaya T. V.
Popovskij Yu. M.
Citation: Физика аэродисперсных систем
Issue Date: 2003
Publisher: Одесский национальный университет имени И. И. Мечникова
Series/Report no.: ;Вып. 40. - С. 143 - 149.
Abstract: Проведено исследование зависимости диэлектрической проницаемости плоских пристенных слоев нитробензола и нематического жидкого кристалла 5 ЦБ в зависимости от их толщины и температуры. Полученные результаты свидетельствуют о наличии вблизи твердой подложки пристенного слоя с диэлектрической проницаемостью, отличной от объемной, что связано с образованием вблизи поверхности твердой подложки ассоциатов (димеров) молекул препарата с антипараллельной ориентацией дипольных моментов. Повышение температуры приводит к разрушению димеров и, следовательно, к уменьшению толщины пристенного слоя. Проведено експериментальне дослідження діелектричної проникності плоских прошарків нітробензолу та нематичного рідкого кристалу 5 ЦБ у залежності від їхньої товщини та температури. Отримані данні свідчать про наявність поблизу від твердої підкладки пристінного шару з діелектричною проникністю, відмінною за об'ємну, що, можливо, є наслідком утворення поблизу твердої підкладки асоціатів (дімерів) молекул препарату, що мають антипаралельні дипольні моменти. Підвищення температури викликає розпад дімерів, що призводить до зменшення товщини пристінного шару. The experimental research of permittivity in the flat interlayers of nitrobenzene and nematic liquid crystals 5 CB as a function of their thickness and temperature was carried out. The obtained outcomes testify to existence of wall-adjacent layer near to a firm substrate surface with permittivity different from the bulk one. It probably caused by associate (dimer) formation in the liquid crystal near the surface of a firm substrate and mutual antiparallel moleculas dipole orientation in dimmer. The temperature increase causes the dimers decay and, therefore, the decrease of wall-adjacent layer thickness.
Description: Физика аэродисперсных систем: межвед.научный сборник / Одесский национальный университет имени И.И. Мечникова, кафедра теплофизики. - Одесса, 1969. –
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/957
Appears in Collections:Фізика аеродисперсних систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
fas_40_143-149+.pdf133.8 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
fas_40_57-63+.pdf140.46 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.