DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Інститут математики, економіки та механіки - ІМЕМ >
Вісник ОНУ. Сер. "Психологія" >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/664

Название: Теоретико-методологічний аналіз основних підходів у дослідженні захисних механізмів психіки
Другие названия: Теоретико-методологический анализ основных подходов к исследованию защитных механизмов психики
Theoretiko-methodological analysis of basic approaches to research in mechanisms of defense
Авторы: Варнава, Уляна Володимирівна
Варнава, Ульяна Владимировна
Varnava, Ulyana V.
Ключевые слова: теоретико-методологічний аналіз
захисні механізми психіки
емоції
адаптація
теоретико-методологический анализ
защитные механизмы психики
эмоции
адаптация
teoretiko-methodological analysis
mechanisms of defense of psyche
еmotion
adaptation
Дата публикации: 2009
Издатель: Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Источник: Вiсник Одеського нацiонального унiверситету=Odessa National University Herald
Серия/номер: Психологія;Т. 14, вип. 6
Краткий осмотр (реферат): У статті представлено теоретико-методологічний аналіз сучасних науково-психологічних досліджень з проблеми захисних механізмів.
В статье представлено теоретико-методологический анализ современных научно-психологических исследований по проблеме защитных механизмов.
In the article it is presented teoretiko-methodological analysis of modern scientific psychological researches in mechanisms of defense.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/664
Располагается в коллекциях:Вісник ОНУ. Сер. "Психологія"

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
4-9.pdf70,44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь