DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
"Сенсорна електроніка і мікросистемні технології" >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/6137

Название: Основы высоколокальной СВЧ сенсорики
Другие названия: Основи високолокальної НВЧ сенсоріки
Foundations of highlocal microwave sensorics
Авторы: Гордиенко, Ю. Е.
Бондаренко, И. Н.
Лепих, Ярослав Ильич
Проказа, А. М.
Гордієнко, Ю. О.
Бондаренко, І. М.
Лепіх, Ярослав Ілліч
Проказа, О. М.
Gordienko, Yu. E.
Bondarenko, I. N.
Lepikh, Yaroslav I.
Prokaza, A. M.
Ключевые слова: сенсорика
ближнеполевая микроскопия
апертура
накопительная область
характеристики преобразования
сенсорика
ближньопольова мікроскопія
апертура
область накопичення
характеристики перетворення
sensorics
short-distance field microscopy
the aperture
storage area
transformation characteristics
Дата публикации: 2014
Издатель: Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Источник: Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem
Серия/номер: ;Т. 11, №4, С. 18-26.
Краткий осмотр (реферат): Созданы теоретические основы разработки нового поколения ближнеполевых микроволновых датчиков для контроля сред и функциональных материалов с широким спектром локальности, которые являются базой высоколокальной СВЧ сенсорики. Системно исследованы характеристики преобразования таких датчиков, показана связь потерь на излучение с размерами апертуры зонда и электрофизическими параметрами объекта исследования. Предложен способ решения задачи одновременного повышения локальности и чувствительности датчиков. Разработана схема выделения и обработки сигналов измерительной информации с использованием современных достижений аналого-цифрового преобразования и микропроцессорной техники
Створено теоретичні передумови розробки нового покоління ближньопольових мікрохвильових датчиків для контролю середовищ і функціональних матеріалів з широким спектром локальності, які є базою високолокальної НВЧ сенсорики. Системно досліджено характеристики перетворення таких датчиків, показано зв'язок втрат на випромінювання з розмірами апертури зонда і електрофізичними параметрами об'єкта дослідження. Запропоновано спосіб вирішення задачі одночасного підвищення локальності і чутливості датчиків. Розроблено схему виділення та обробки сигналів вимірювальної інформації з використанням сучасних досягнень аналого-цифрового перетворення і мікропроцесорної техніки
Theoretical foundations of development of short-distance field microscopy microwave gauges of new generation for the control of medium and functional materials with a wide spectrum of localness that are the base of highlocal microwave sensorics are created. Such gauges transformation characteristics are systemically investigated, connection of losses on radiation with the probe aperture sizes and the investigated object electrophysical parameters is shown. The way of the solving of a problem of simultaneous gauges localness and sensitivity increase is offered. The pattern of measuring information signals displaying and processing with the use of modern achievements of analog-digital transformation and microprocessor engineering is developed
Описание: Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologies : наук.-техн. журнал
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/6137
Располагается в коллекциях:"Сенсорна електроніка і мікросистемні технології"

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
18-26ф.pdf947,62 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь