Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/479
Title: | Degradation of semiconductordevices: non-destructive diagnostics |
Authors: | Ptashchenko, Oleksandr O. Ptashchenko, F. A. Птащенко, Олександр Олександрович Птащенко, Александр Александрович |
Citation: | Вісник Одеського національного університету = Odesa National University Herald |
Issue Date: | 2006 |
Publisher: | Одеський національний університет імені І. І. Мечникова |
Series/Report no.: | Фізика;Том 11, вип. 7 |
Abstract: | Наведено огляд механізмів деградаційних процесів у напівпровідниках та експериментальних даних про деградаційні явища у напівпровідникових приладах оптоелектроніки. Представлено неруйнівні методи діагностики деградаційних процесів,що базуються на аналізі електричних і світлових характеристик та поляризації випромінювання в різних діелктричних середовищах, випромінюванні просторового розподілу випромінювання та фоточутливості, аналізі високочастотного спектру шумів. Проведен обзор механизмов деградационных процессов в полупроводниках и экспериментальных данных о деградационных явлениях в полупроводниковых приборах оптоэлектроники. Представлены неразрушающие методы диагностики деградационных процессов, основанные на анализе электрических и световых характеристик и поляризации излучения в различных диалектических средах, измерении пространственного распределения излучения и фоточувствительности, анализе низкочастотного спектра шумов. General insight into mechanisms of degradation process in semiconductors is given, as well assome of experimental data on degradation phenomena in in optoelectronic semiconductor devices. Non-destructive techniques for diagnostics of degradation process are presented, based on analysis of electrical and light output characteristics, as well as polarization of emission in different dielectric mediums, measurements of spatial distributions of emission and photosensivity, analysis of low-frequency noise spectrum. |
URI: | http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/479 |
Appears in Collections: | Дослiдження в математицi i механiцi |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.