DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
Вісник ОНУ. Сер.Фізика >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/479

Название: Degradation of semiconductordevices: non-destructive diagnostics
Авторы: Ptashchenko, A. A.
Ptashchenko, F. A.
Дата публикации: 2006
Издатель: Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Источник: Вісник Одеського національного університету = Odesa National University Herald
Серия/номер: Фізика;Том 11, вип. 7
Краткий осмотр (реферат): Наведено огляд механізмів деградаційних процесів у напівпровідниках та експериментальних даних про деградаційні явища у напівпровідникових приладах оптоелектроніки. Представлено неруйнівні методи діагностики деградаційних процесів,що базуються на аналізі електричних і світлових характеристик та поляризації випромінювання в різних діелктричних середовищах, випромінюванні просторового розподілу випромінювання та фоточутливості, аналізі високочастотного спектру шумів. Проведен обзор механизмов деградационных процессов в полупроводниках и экспериментальных данных о деградационных явлениях в полупроводниковых приборах оптоэлектроники. Представлены неразрушающие методы диагностики деградационных процессов, основанные на анализе электрических и световых характеристик и поляризации излучения в различных диалектических средах, измерении пространственного распределения излучения и фоточувствительности, анализе низкочастотного спектра шумов. General insight into mechanisms of degradation process in semiconductors is given, as well assome of experimental data on degradation phenomena in in optoelectronic semiconductor devices. Non-destructive techniques for diagnostics of degradation process are presented, based on analysis of electrical and light output characteristics, as well as polarization of emission in different dielectric mediums, measurements of spatial distributions of emission and photosensivity, analysis of low-frequency noise spectrum.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/479
Располагается в коллекциях:Вісник ОНУ. Сер.Фізика

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
3-18.pdf1,8 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь