Degradation of semiconductordevices: non-destructive diagnostics
Альтернативна назва
Вантажиться...
Файли
Дата
2006
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
ISSN
E-ISSN
Назва тому
Видавець
Одеський національний університет імені І. І. Мечникова
Анотація
Наведено огляд механізмів деградаційних процесів у напівпровідниках та експериментальних даних про деградаційні явища у напівпровідникових приладах оптоелектроніки. Представлено неруйнівні методи діагностики деградаційних процесів,що базуються на аналізі електричних і світлових характеристик та поляризації випромінювання в різних діелктричних середовищах, випромінюванні просторового розподілу випромінювання та фоточутливості, аналізі високочастотного спектру шумів. Проведен обзор механизмов деградационных процессов в полупроводниках и экспериментальных данных о деградационных явлениях в полупроводниковых приборах оптоэлектроники. Представлены неразрушающие методы диагностики деградационных процессов, основанные на анализе электрических и световых характеристик и поляризации излучения в различных диалектических средах, измерении пространственного распределения излучения и фоточувствительности, анализе низкочастотного спектра шумов. General insight into mechanisms of degradation process in semiconductors is given, as well assome of experimental data on degradation phenomena in in optoelectronic semiconductor devices. Non-destructive techniques for diagnostics of degradation process are presented, based on analysis of electrical and light output characteristics, as well as polarization of emission in different dielectric mediums, measurements of spatial distributions of emission and photosensivity, analysis of low-frequency noise spectrum.
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Вісник Одеського національного університету = Odesa National University Herald