Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/432
Title: Методика исследования оптической анизотропии неоднородных микронных прослоек
Other Titles: Методика дослідження оптичної анізотропії неоднорідних мікронних прошарків
Authors: Поповский, А. Ю.
Кириян, С. В.
Алтоиз, Борис Анатольевич
Бутенко, А. Ф.
Поповській, О. Ю.
Кіріян, С. В.
Алтоіз, Борис Анатолійович
Бутенко, А. Ф.
Popovskii A.Yu.
Kiriyan Sergiy V.
Altoiz Boris A.
Butenko A. F.
Citation: Физика аэродисперсних систем
Issue Date: 2006
Publisher: Одесский национальный университет имени И. И. Мечникова
Series/Report no.: ;Вып. 43. - С. 45 - 54.
Abstract: Описана методика исследования "щелевым световодом переменной толщины" двулучепреломления в микронных прослойках жидкости,содержащих оптически анизотропные слои. Проанализированы основные факторы, определяющие погрешности измерений. Описується методика дослідження щілинним світловодом змінної товщини двопромінезаломлення у мікронних прошарках рідини, які містять оптично анізотропні шари. Проаналізовані основні фактори,що впливають на точність експериментів. The variable thickness plane light-guide method of light birefringence investigation in microns liquid interlayers, which consist of optically anisotropic wall-adjacent layers, is described. The main factors that determine the accuracy of measurements are analuzed.
Description: Физика аэродисперсных систем: межвед.научный сборник / Одесский национальный университет имени И.И. Мечникова, кафедра теплофизики. - Одесса, 1969. –
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/432
Appears in Collections:Фізика аеродисперсних систем

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ФАС-43_45-54.pdf772.31 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.