Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/432
Title: | Методика исследования оптической анизотропии неоднородных микронных прослоек |
Other Titles: | Методика дослідження оптичної анізотропії неоднорідних мікронних прошарків |
Authors: | Поповский, А. Ю. Кириян, С. В. Алтоиз, Борис Анатольевич Бутенко, А. Ф. Поповській, О. Ю. Кіріян, С. В. Алтоіз, Борис Анатолійович Бутенко, А. Ф. Popovskii A.Yu. Kiriyan Sergiy V. Altoiz Boris A. Butenko A. F. |
Citation: | Физика аэродисперсних систем |
Issue Date: | 2006 |
Publisher: | Одесский национальный университет имени И. И. Мечникова |
Series/Report no.: | ;Вып. 43. - С. 45 - 54. |
Abstract: | Описана методика исследования "щелевым световодом переменной толщины" двулучепреломления в микронных прослойках жидкости,содержащих оптически анизотропные слои. Проанализированы основные факторы, определяющие погрешности измерений. Описується методика дослідження щілинним світловодом змінної товщини двопромінезаломлення у мікронних прошарках рідини, які містять оптично анізотропні шари. Проаналізовані основні фактори,що впливають на точність експериментів. The variable thickness plane light-guide method of light birefringence investigation in microns liquid interlayers, which consist of optically anisotropic wall-adjacent layers, is described. The main factors that determine the accuracy of measurements are analuzed. |
Description: | Физика аэродисперсных систем: межвед.научный сборник / Одесский национальный университет имени И.И. Мечникова, кафедра теплофизики. - Одесса, 1969. – |
URI: | http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/432 |
Appears in Collections: | Фізика аеродисперсних систем |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
ФАС-43_45-54.pdf | 772.31 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.