Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/4318
Title: DETECTION OF AMMONIA MOLECULES USING OPTICAL REFLECTANCE FROM NANOSTRUCTURED SILICON SURFACE
Other Titles: ДЕТЕКТИРОВАНИЕ АММИАКА МЕТОДОМ ОПТИЧЕСКОГО ОТРАЖЕНИЯ НАНО-СТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ КРЕМНИЯ
ДЕТЕКТУВАННЯ АМІАКУ МЕТОДОМ ОПТИЧНОГО ВІДБИТТЯ НАНОСТРУКТУРОВАНОЮ ПОВЕРХНЕЮ КРЕМНІЮ
Authors: Iatsunskyi, Igor R.
Smyntyna, Valentyn A.
Pavlenko, Mykola V.
Яцунский, Игорь Ростиславович
Смынтына, Валентин Андреевич
Павленко, Николай Николаевич
Яцунський, Ігор Ростиславович
Сминтина, Валентин Андрійович
Павленко, Микола Миколайович
Citation: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Issue Date: 2013
Publisher: Одесский национальный университет имени И. И. Мечникова
Keywords: porous silicon
adsorption
reflectance
ammonia
пористый кремний
адсорбция
оптическое отражение
аммиак
поруватий кремній
адсорбція
оптичне відбиття
аміак
Series/Report no.: ;№ 22, p. 66-71
Abstract: The reflectance properties of various porous silicon structures after ammonia adsorption were investigated. It was shown that increasing of ammonia concentration in the measurement chamber leads to an increase of the optical reflectance. The most sensitive structures for ammonia detection are porous silicon having approximately size of pores - 10-15 um.
Было исследовано оптическое отражение различных пористых структур кремния после адсорбции аммиака. Показано, что повышение концентрации аммиака приводит к увеличению оптического отражения. Наиболее чувствительными структурами для детектирования аммиака является пористый кремний, имеющий размер пор - 10-15 мкм.
Було досліджено оптичне відбиття різних поруватих структур кремнію після адсорбції аміаку. Показано, що підвищення концентрації аміаку призводить до збільшення оптичного відбиття. Найбільш чутливими структурами для детектування аміаку є поруватий кремній, що має розмір пор - 10-15 мкм.
Description: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса, 2013. - англ.
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/4318
Appears in Collections:Photoelectronics

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
66-71.pdf416.99 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.