Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/3803
Назва: Classic and Topologic Dimensional Effects in SnO2 Thin Films Detected by Surface Plasmon Resonance Technique
Автори: Hrinevych, Viktor S.
Filevska, Liudmila M.
Maximenko, L. S.
Matiash, I. E.
Mischuk, O. N.
Rudenko, S. P.
Serdeha, B. K.
Smyntyna, Valentyn A.
Бібліографічний опис: Journal of Nanomaterials & Molecular Nanotechnology
Дата публікації: 2013
Видавництво: SciTechnol
Ключові слова: Tin dioxide
Thin film
Surface Plasmon resonance
Серія/номер: ;V.2; p.1-8.
Короткий огляд (реферат): Internal reflection features caused by the surface plasmon resonance in nanoscale films containing defect tin dioxide clusters in the stoichiometric dielectric matrix are studied by means of polarization modulation of electromagnetic radiation. The angular and spectral characteristics of reflectances Rs2 and Rp2 of s- and p-polarized radiation and their polarization difference ρ=Rs2–Rp2 are measured in the wavelength range λ=400-1600 nm. The obtained experimental characteristics ρ(θ, λ) (θ is the radiation incidence angle) represent the optical property features associated with the film structure and morphology. Surface plasmon polaritons and local plasmons excited by s- and p-polarized radiation are detected; their frequency and relaxation properties are determined. The technique employed for studying surface plasmon resonance in tin dioxide films is appeared to be structurally sensitiv
Опис: Journal of Nanomaterials & Molecular Nanotechnology. - 2013.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/3803
Розташовується у зібраннях:Статті та доповіді ФМФІТ

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
1-8. pdf.pdf1.01 MBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.