DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
Фотоэлектроника = Photoelectronics >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/285

Название: ON CHARGE STATE OF RAPID AND SLOW RECOMBINATION CENTERS IN SEMICONDUCTORS
Другие названия: О ЗАРЯДОВОМ СОСТОЯНИИ ЦЕНТРОВ БЫСТРОЙ И МЕДЛЕННОЙ РЕКОМБИНАЦИИ
ПРО ЗАРЯДОВИЙ СТАН ЦЕНТРІВ ШВИДКОЇ ТА ПОВІЛЬНОЇ РЕКОМБІНАЦІЇ
Авторы: Britavsky, E. V.
Karakis, Y. M.
Kutalova, M. I.
Chemeresyuk, G. G.
Дата публикации: 2008
Издатель: Астропринт
Источник: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Серия/номер: ;№ 17. - Р. 64 - 69.
Краткий осмотр (реферат): In this work the change of lux-ampere characteristic type from the linear to the super-linear one, being not described in the framework of Rose-Bube model, was registered and explained as the good criterion of the sensitization achieved without the carriers life-time evaluation which could be attributed to developed Rose-Bube-Serdyuk model included the equation of electro-neutrality. Various ratio of S- and R-recombination centers were chosen to be substituted into the equations system and it was shown that the minimal error function corresponding to physically true solution could be achieved by the proper choice of experimental parameters. В настоящей работе изменение вида люкс-амперной от линейного до суперлинейного, который не описывался в рамках модели Роуза-Бьюба, было зафиксировано и объяснено как хороший критерий достигнуть очувствления без проведения расчетов времени жизни носителей, что имеет место в расширенной модели Роуза-Бьюба-Сердюка, содержащей уравнение электронейтральности. Различные у соотношения S- и R- центров рекомбинации были выбраны для подстановки в систему уравнений, и видно, что функция минимальной погрешности, соответствующая физически правильному решению, может быть достигнута при соответствующем выборе параметров эксперимента. В роботі зміна характеру люкс-амперної характеристики від лінійного до суперлінійного, який не роз,яснювався в межах моделі Роуза-Бьюба, була зафіксована і пояснена як якісний критерій підвищення чутливості без проведення розрахунків часу існування носіїв, що має місце у розгорненій моделі Роуза-Бьюба-Сердюка, рівняння електронейтральності. Різні співвідношення S- і R- центрів рекомбінації були обрані для підстановки в систему рівнянь, і зрозуміло, що функція міні- мальної помилки, яка відповідає вірному рішенню, може бути досягнута при відповідному виборі параметрів досліду.
Описание: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2008.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/285
Располагается в коллекциях:Фотоэлектроника = Photoelectronics

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Fotoel_17_64-69.pdf96,52 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь