Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/283
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorKulinich, O. A.-
dc.contributor.authorSmyntyna, Valentyn A.-
dc.contributor.authorGlauberman, Mykhailo A.-
dc.contributor.authorChemeresiuk, Heorhii H.-
dc.contributor.authorYatsunskiy, I. R.-
dc.contributor.authorКулініч, О. А.-
dc.contributor.authorСминтина, Валентин Андрійович-
dc.contributor.authorГлауберман, Михайло Абович-
dc.contributor.authorЧемересюк, Георгій Гаврилович-
dc.contributor.authorЯцунський, Ігор Ростиславович-
dc.contributor.authorКулинич, О. А.-
dc.contributor.authorСмынтына, Валентин Андреевич-
dc.contributor.authorГлауберман, Михаил Аббович-
dc.contributor.authorЧемересюк, Георгий Гаврилович-
dc.contributor.authorЯцунский, Игорь Ростиславович-
dc.date.accessioned2010-09-10T08:37:30Z-
dc.date.available2010-09-10T08:37:30Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationФотоэлектроника = Photoelectronicsuk
dc.identifier.urihttp://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/283-
dc.descriptionФотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт, 2006.uk
dc.description.abstractThe model of current flow process simulation in metal-silicon structures with used modern method of investigation within the limits of thermo-electric, drift-diffusion and tunnel-resonant theories and it bases on barrier properties of structural defects. В роботі на основі проведених досліджень за допомогою сучасних методів запропонована фізико-математична модель струмопереносу в структурах метал-кремній в межах термоелектронної, дрейфово-дифузіоної та тунельно- резонансних теорій і основана на бар'єрних властивостях структурних дефектів. В данной роботе на основе исследований, проведенных с помощью современных методов, предложена физико- математическая модель токопереноса в структурах металл-кремний в рамках термоэлектронной, дрейфово-дифузио- ной и туннельно-резонансных теорий и она основана на барьерных свойствах структурных дефектов.uk
dc.language.isoenuk
dc.publisherАстропринтuk
dc.relation.ispartofseries;№ 15. - Р. 84 - 88.-
dc.subjectsiliconuk
dc.subjectmetaluk
dc.subjectmodeluk
dc.subjectcurrentuk
dc.subjectdislocationuk
dc.subjectкремнійuk
dc.subjectметалuk
dc.subjectмоделюванняuk
dc.subjectструмопереносuk
dc.subjectкремнийuk
dc.subjectметаллuk
dc.subjectмоделированиеuk
dc.subjectтокопереносuk
dc.titleCURRENT FLOW PROCESS SIMULATION IN METAL-SILICON STRUCTURESuk
dc.title.alternativeМОДЕЛЮВАННЯ ПРОЦЕСУ СТРУМОПЕРЕНОСУ В СТРУКТУРАХ МЕТАЛ-КРЕМНІЙuk
dc.title.alternativeМОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССА ТОКОПЕРЕНОСА В СТРУКТУРАХ МЕТАЛЛ-КРЕМНИЙuk
dc.typeArticleuk
Appears in Collections:Photoelectronics

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
fotoel_15_2006_84-88.pdf1.4 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.