Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/283
Title: CURRENT FLOW PROCESS SIMULATION IN METAL-SILICON STRUCTURES
Other Titles: МОДЕЛЮВАННЯ ПРОЦЕСУ СТРУМОПЕРЕНОСУ В СТРУКТУРАХ МЕТАЛ-КРЕМНІЙ
МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССА ТОКОПЕРЕНОСА В СТРУКТУРАХ МЕТАЛЛ-КРЕМНИЙ
Authors: Kulinich, O. A.
Smyntyna, Valentyn A.
Glauberman, Mykhailo A.
Chemeresiuk, Heorhii H.
Yatsunskiy, I. R.
Кулініч, О. А.
Сминтина, Валентин Андрійович
Глауберман, Михайло Абович
Чемересюк, Георгій Гаврилович
Яцунський, Ігор Ростиславович
Кулинич, О. А.
Смынтына, Валентин Андреевич
Глауберман, Михаил Аббович
Чемересюк, Георгий Гаврилович
Яцунский, Игорь Ростиславович
Citation: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Issue Date: 2006
Publisher: Астропринт
Keywords: silicon
metal
model
current
dislocation
кремній
метал
моделювання
струмоперенос
кремний
металл
моделирование
токоперенос
Series/Report no.: ;№ 15. - Р. 84 - 88.
Abstract: The model of current flow process simulation in metal-silicon structures with used modern method of investigation within the limits of thermo-electric, drift-diffusion and tunnel-resonant theories and it bases on barrier properties of structural defects. В роботі на основі проведених досліджень за допомогою сучасних методів запропонована фізико-математична модель струмопереносу в структурах метал-кремній в межах термоелектронної, дрейфово-дифузіоної та тунельно- резонансних теорій і основана на бар'єрних властивостях структурних дефектів. В данной роботе на основе исследований, проведенных с помощью современных методов, предложена физико- математическая модель токопереноса в структурах металл-кремний в рамках термоэлектронной, дрейфово-дифузио- ной и туннельно-резонансных теорий и она основана на барьерных свойствах структурных дефектов.
Description: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт, 2006.
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/283
Appears in Collections:Photoelectronics

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
fotoel_15_2006_84-88.pdf1.4 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.