DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
"Фотоэлектроника" >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/283

Название: CURRENT FLOW PROCESS SIMULATION IN METAL-SILICON STRUCTURES
Другие названия: МОДЕЛЮВАННЯ ПРОЦЕСУ СТРУМОПЕРЕНОСУ В СТРУКТУРАХ МЕТАЛ-КРЕМНІЙ
МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССА ТОКОПЕРЕНОСА В СТРУКТУРАХ МЕТАЛЛ-КРЕМНИЙ
Авторы: Kulinich, O. A.
Smyntyna, V. A.
Glauberman, M. A.
Chemeresuk, G. G.
Yatsunsky, I. R.
Кулініч, О. А.
Сминтина, Валентин Андрійович
Глауберман, М. А.
Чемересюк, Г. Г.
Яцунський, І. Р.
Кулинич, О. А.
Смынтына, Валентин Андреевич
Глауберман, М. А.
Чемересюк, Г. Г.
Яцунский, И. Р.
Ключевые слова: silicon
metal
model
current
dislocation
кремній
метал
моделювання
струмоперенос
кремний
металл
моделирование
токоперенос
Дата публикации: 2006
Издатель: Астропринт
Источник: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Серия/номер: ;№ 15. - Р. 84 - 88.
Краткий осмотр (реферат): The model of current flow process simulation in metal-silicon structures with used modern method of investigation within the limits of thermo-electric, drift-diffusion and tunnel-resonant theories and it bases on barrier properties of structural defects. В роботі на основі проведених досліджень за допомогою сучасних методів запропонована фізико-математична модель струмопереносу в структурах метал-кремній в межах термоелектронної, дрейфово-дифузіоної та тунельно- резонансних теорій і основана на бар'єрних властивостях структурних дефектів. В данной роботе на основе исследований, проведенных с помощью современных методов, предложена физико- математическая модель токопереноса в структурах металл-кремний в рамках термоэлектронной, дрейфово-дифузио- ной и туннельно-резонансных теорий и она основана на барьерных свойствах структурных дефектов.
Описание: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт, 2006.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/283
Располагается в коллекциях:"Фотоэлектроника"

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
fotoel_15_2006_84-88.pdf1,4 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь