Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/261
Назва: CONDUCTIVITY MECHANISM IN THIN NANOCRYCTALLINE TIN OXIDE FILMS
Інші назви: МЕХАНИЗМ ПРОВОДИМОСТИ В ТОНКИХ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛEНКАХ ОКСИДА ОЛОВА
МЕХАНІЗМ ПРОВІДНОСТІ В ТОНКИХ НАНОКРИСТАЛІЧНИХ ПЛІВКАХ ОКСИДУ ОЛОВА
Автори: Viter, Roman V.
Smyntyna, Valentyn A.
Konup, Ihor P.
Nitsuk, Yuriy A.
Ivanytsia, Volodymyr O.
Витер, Роман Витальевич
Смынтына, Валентин Андреевич
Конуп, Игорь Петрович
Ницук, Юрий Андреевич
Иваница, Владимир Алексеевич
Вітер, Роман Віталійович
Сминтина, Валентин Андрійович
Конуп, Ігор Петрович
Ніцук, Юрій Андрійович
Іваниця, Володимир Олексійович
Бібліографічний опис: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Дата публікації: 2009
Видавництво: Астропринт
Ключові слова: tin oxide
nanocrystalline films
I-V characterization
XRD
AFM
оксид олова
вольт-амперные характеристики
атомная силовая микроскопия и дифракция рентгеновского излучения
оксид олова
вольт-амперні характеристики
атомна силова мікроскопія та дифракція рентгенівського випромінювання
Серія/номер: ;№ 18. - Р. 4 - 8.
Короткий огляд (реферат): Structural properties of tin oxide nanocryastalline films have been investigated by means of atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD) methods. Surface morphology, roughness, crystalline size and lattice strain have been estimated. Current-voltage characteristics (I-V) have been measured at different temperatures. Temperature dependence of current has been studied. Activation energies have been evaluated and conductivity mechanism has been proposed. Структурные свойства нанокристаллических плёнок оксида олова были изучены при помощи методов атомной силовой микроскопии и дифракции рентгеновского излучения. Были определены морфология поверхности, величины ее шероховатости, размеров кристаллитов и механического напряжения кристаллической решетки. Вольт-амперные характеристики образцов были изучены при разных температурах. Температурная зависимость темнового тока была изучена. Энергии активации проводимости были определены. Структурні властивості нанокристалічних плівок оксиду олова було досліджено за допомогою методів атомної силової мікроскопії та дифракції рентгенівського випромінювання. Було визначено морфологія поверхні, величини її неоднорідност і, розмірів кристалітів та механічного напруження кристалічної гратки. Вольт-амперні характеристики зразків було досл іджено при різних температурах. Температурну залежність темнового струму було побудовано. Енергії активації провідност і були визначені.
Опис: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2009.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/261
Розташовується у зібраннях:Photoelectronics

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
fotoel_18_2009_4-8.pdf196.22 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.