Температурная зависимость параметров кремниевых МОП и РIN-фотоприемных структур при наличии структурных дефектов
Вантажиться...
Файли
Дата
2006
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
Номер ISSN
Номер E-ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
На основании исследований графиков зависимости вышеперечисленных параметров от температуры установлено,что структурные дефекты влияют не только на значения параметров,но и на ход температурных зависимое гей.Определены пороговые плотности дислокаций,влияющие на параметры,и температурный диапазон,когда различные механизмы влияния на параметры вызывают их одинаковые изменения.
Опис
Сенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2) : Мiжнар. наук.-техн. конф., 26-30червня 2006 р.; Одеса: тези доповідей / ОНУ iм. I. I. Мечникова, [та ін.]. – Одеса: Астропринт, 2006.
Ключові слова
Бібліографічний опис
Сенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2)