Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2618
Title: Температурная зависимость параметров кремниевых МОП и РIN-фотоприемных структур при наличии структурных дефектов
Authors: Смынтына, Валентин Андреевич
Кулинич, О. А.
Глауберман, Михаил Аббович
Чемересюк, Г. Г.
Яцунский, И. Р.
Свиридова, О. В.
Glauberman, Mykhailo A.
Глауберман, Михайло Абович
Citation: Сенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2)
Issue Date: 2006
Series/Report no.: ;Мiжнар. наук.-техн. конф.
Abstract: На основании исследований графиков зависимости вышеперечисленных параметров от температуры установлено,что структурные дефекты влияют не только на значения параметров,но и на ход температурных зависимое гей.Определены пороговые плотности дислокаций,влияющие на параметры,и температурный диапазон,когда различные механизмы влияния на параметры вызывают их одинаковые изменения.
Description: Сенсорна електронiка та мiкросистемнi технологiї (СЕМСТ-2) = SENSORS ELECTRONICS AND MICROSYSTEMS TECHNOLOGY” ) = (SEMST-2) : Мiжнар. наук.-техн. конф., 26-30червня 2006 р.; Одеса: тези доповідей / ОНУ iм. I. I. Мечникова, [та ін.]. – Одеса: Астропринт, 2006.
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2618
Appears in Collections:Статті та доповіді ФМФІТ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
262+.PDF734.04 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.