DSpace О системе DSpace
україн русск eng
[Зарегистрироваться]
 

Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
"Фотоэлектроника" >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/261

Название: CONDUCTIVITY MECHANISM IN THIN NANOCRYCTALLINE TIN OXIDE FILMS
Другие названия: МЕХАНИЗМ ПРОВОДИМОСТИ В ТОНКИХ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛEНКАХ ОКСИДА ОЛОВА
МЕХАНІЗМ ПРОВІДНОСТІ В ТОНКИХ НАНОКРИСТАЛІЧНИХ ПЛІВКАХ ОКСИДУ ОЛОВА
Авторы: Viter, Roman V.
Smyntyna, Valentyn A.
Konup, I. P.
Nitsuk, Yu. A.
Ivanitsa, Volodymyr A.
Витер, Роман Витальевич
Смынтына, Валентин Андреевич
Конуп, И. П.
Ницук, Ю. А.
Иваница, Владимир Алексеевич
Вітер, Роман Виталійович
Сминтина, Валентин Андрійович
Конуп, І. П.
Ніцук, Ю. А.
Іваниця, Володимир Олексійович
Ключевые слова: tin oxide
nanocrystalline films
I-V characterization
XRD
AFM
оксид олова
вольт-амперные характеристики
атомная силовая микроскопия и дифракция рентгеновского излучения
оксид олова
вольт-амперні характеристики
атомна силова мікроскопія та дифракція рентгенівського випромінювання
Дата публикации: 2009
Издатель: Астропринт
Источник: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Серия/номер: ;№ 18. - Р. 4 - 8.
Краткий осмотр (реферат): Structural properties of tin oxide nanocryastalline films have been investigated by means of atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD) methods. Surface morphology, roughness, crystalline size and lattice strain have been estimated. Current-voltage characteristics (I-V) have been measured at different temperatures. Temperature dependence of current has been studied. Activation energies have been evaluated and conductivity mechanism has been proposed. Структурные свойства нанокристаллических плёнок оксида олова были изучены при помощи методов атомной силовой микроскопии и дифракции рентгеновского излучения. Были определены морфология поверхности, величины ее шероховатости, размеров кристаллитов и механического напряжения кристаллической решетки. Вольт-амперные характеристики образцов были изучены при разных температурах. Температурная зависимость темнового тока была изучена. Энергии активации проводимости были определены. Структурні властивості нанокристалічних плівок оксиду олова було досліджено за допомогою методів атомної силової мікроскопії та дифракції рентгенівського випромінювання. Було визначено морфологія поверхні, величини її неоднорідност і, розмірів кристалітів та механічного напруження кристалічної гратки. Вольт-амперні характеристики зразків було досл іджено при різних температурах. Температурну залежність темнового струму було побудовано. Енергії активації провідност і були визначені.
Описание: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2009.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/261
Располагается в коллекциях:"Фотоэлектроника"

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
fotoel_18_2009_4-8.pdf196,22 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

п╞пҐпЄп╣п╨я│ я├п╦я┌п╦я─п╬п╡п╟пҐп╦я▐ DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь