Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/261
Title: CONDUCTIVITY MECHANISM IN THIN NANOCRYCTALLINE TIN OXIDE FILMS
Other Titles: МЕХАНИЗМ ПРОВОДИМОСТИ В ТОНКИХ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛEНКАХ ОКСИДА ОЛОВА
МЕХАНІЗМ ПРОВІДНОСТІ В ТОНКИХ НАНОКРИСТАЛІЧНИХ ПЛІВКАХ ОКСИДУ ОЛОВА
Authors: Viter, Roman V.
Smyntyna, Valentyn A.
Konup, Ihor P.
Nitsuk, Yuriy A.
Ivanytsia, Volodymyr O.
Витер, Роман Витальевич
Смынтына, Валентин Андреевич
Конуп, Игорь Петрович
Ницук, Юрий Андреевич
Иваница, Владимир Алексеевич
Вітер, Роман Віталійович
Сминтина, Валентин Андрійович
Конуп, Ігор Петрович
Ніцук, Юрій Андрійович
Іваниця, Володимир Олексійович
Citation: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Issue Date: 2009
Publisher: Астропринт
Keywords: tin oxide
nanocrystalline films
I-V characterization
XRD
AFM
оксид олова
вольт-амперные характеристики
атомная силовая микроскопия и дифракция рентгеновского излучения
оксид олова
вольт-амперні характеристики
атомна силова мікроскопія та дифракція рентгенівського випромінювання
Series/Report no.: ;№ 18. - Р. 4 - 8.
Abstract: Structural properties of tin oxide nanocryastalline films have been investigated by means of atomic force microscopy (AFM) and X-ray diffraction (XRD) methods. Surface morphology, roughness, crystalline size and lattice strain have been estimated. Current-voltage characteristics (I-V) have been measured at different temperatures. Temperature dependence of current has been studied. Activation energies have been evaluated and conductivity mechanism has been proposed. Структурные свойства нанокристаллических плёнок оксида олова были изучены при помощи методов атомной силовой микроскопии и дифракции рентгеновского излучения. Были определены морфология поверхности, величины ее шероховатости, размеров кристаллитов и механического напряжения кристаллической решетки. Вольт-амперные характеристики образцов были изучены при разных температурах. Температурная зависимость темнового тока была изучена. Энергии активации проводимости были определены. Структурні властивості нанокристалічних плівок оксиду олова було досліджено за допомогою методів атомної силової мікроскопії та дифракції рентгенівського випромінювання. Було визначено морфологія поверхні, величини її неоднорідност і, розмірів кристалітів та механічного напруження кристалічної гратки. Вольт-амперні характеристики зразків було досл іджено при різних температурах. Температурну залежність темнового струму було побудовано. Енергії активації провідност і були визначені.
Description: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2009.
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/261
Appears in Collections:Photoelectronics

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
fotoel_18_2009_4-8.pdf196.22 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.