SPECTROSCOPY OF POLARISED AND MODULATED LIGHT FOR NANOSIZED TINDIOXIDE FILMS INVESTIGATION
Вантажиться...
Дата
2009
Науковий керівник
Укладач
Редактор
Назва журналу
Номер ISSN
Номер E-ISSN
Назва тому
Видавець
Астропринт
Анотація
The peculiarities of the Surface Plasmons Resonance (SPR) in nanosized tin dioxide films, deposited on the prism of total interior
reflection, were experimentally investigated using methods of the polarized and modulated radiation of light (PM). It was found that the
layers, obtained by special technology using polymer materials as structuring additives are the combination of polycrystalline nanosized
grains with air pores. This result has confirmed the supposition about the considerable porosity of the obtained layers. The obtained
results confirm the considerable PM method’s sensitivity for the aims of material’s optical parameters detecting. Экспериментально с применением методики, основанной на поляризационной модуляции (ПМ) излучения, исследованы
особенности поверхностного плазмонного резонанса (ППР) в наноразмерных пленках диоксида олова, нанесенных
на поверхность призмы полного внутреннего отражения. Исследуемые слои являются сочетанием поликристаллических
наноразмерных зерен с воздушными порами, что подтвердило первоначальное предположение о значительной пористости
полученных с использованием полимеров пленок двуокиси олова. Полученные результаты свидетельствуют о значительной
чувствительности метода ПМ в определении оптических параметров материала. Експериментально із застосуванням методики, заснованої на поляризаційній модуляції (ПМ) випромінювання, досліджен
і особливості поверхневого плазмонного резонансу (ППР) у нанорозмірних плівках діоксиду олова, нанесених на поверхню
призми повного внутрішнього відбиття. Досліджувані шари є сполученням полікристалічних нанорозмірних зерен
з повітряними порами, що підтвердило первісне припущення про значну пористість отриманих з використанням полімерів
плівок двоокису олова. Отримані результати свідчать про значну чутливість методу ПМ у визначенні оптичних параметрів
матеріалу.
Опис
Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2009.
Ключові слова
polarizing modulation, thin film, tin dioxide, поляризационная модуляция, тонкие пленки, двуокись олова, поляризаційна модуляція, тонкі плівки, двоокис олова
Бібліографічний опис
Фотоэлектроника = Photoelectronics