Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/251
Title: SPECTROSCOPY OF POLARISED AND MODULATED LIGHT FOR NANOSIZED TINDIOXIDE FILMS INVESTIGATION
Other Titles: ПОЛЯРИЗАЦИОННО-МОДУЛЯЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК ДВУОКИСИ ОЛОВА
ПОЛЯРИЗАЦІЙНО-МОДУЛЯЦІЙНА СПЕКТРОСКОПІЯ НАНОРОЗМІРНИХ ПЛІВОК ДВООКИСУ ОЛОВА
Authors: Maximenko, L. S.
Matyash, I. E.
Rudenko, S. P.
Serdega, B. K.
Hrinevych, Viktor S.
Smyntyna, Valentyn A.
Filevska, Liudmila M.
Максименко, Л. С.
Матяш, И. Е.
Руденко, С. П.
Сердега, Б. К.
Гриневич, Виктор Сергеевич
Смынтына, Валентин Андреевич
Филевская, Людмила Николаевна
Максименко, Л. С.
Матяш, І. Є.
Руденко, С. П.
Сердега, Б. К.
Гріневич, Віктор Сергійович
Сминтина, Валентин Андрійович
Філевська, Людмила Миколаївна
Citation: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Issue Date: 2009
Publisher: Астропринт
Keywords: polarizing modulation
thin film
tin dioxide
поляризационная модуляция
тонкие пленки
двуокись олова
поляризаційна модуляція
тонкі плівки
двоокис олова
Series/Report no.: ;№ 18. - С. 24 - 27.
Abstract: The peculiarities of the Surface Plasmons Resonance (SPR) in nanosized tin dioxide films, deposited on the prism of total interior reflection, were experimentally investigated using methods of the polarized and modulated radiation of light (PM). It was found that the layers, obtained by special technology using polymer materials as structuring additives are the combination of polycrystalline nanosized grains with air pores. This result has confirmed the supposition about the considerable porosity of the obtained layers. The obtained results confirm the considerable PM method’s sensitivity for the aims of material’s optical parameters detecting. Экспериментально с применением методики, основанной на поляризационной модуляции (ПМ) излучения, исследованы особенности поверхностного плазмонного резонанса (ППР) в наноразмерных пленках диоксида олова, нанесенных на поверхность призмы полного внутреннего отражения. Исследуемые слои являются сочетанием поликристаллических наноразмерных зерен с воздушными порами, что подтвердило первоначальное предположение о значительной пористости полученных с использованием полимеров пленок двуокиси олова. Полученные результаты свидетельствуют о значительной чувствительности метода ПМ в определении оптических параметров материала. Експериментально із застосуванням методики, заснованої на поляризаційній модуляції (ПМ) випромінювання, досліджен і особливості поверхневого плазмонного резонансу (ППР) у нанорозмірних плівках діоксиду олова, нанесених на поверхню призми повного внутрішнього відбиття. Досліджувані шари є сполученням полікристалічних нанорозмірних зерен з повітряними порами, що підтвердило первісне припущення про значну пористість отриманих з використанням полімерів плівок двоокису олова. Отримані результати свідчать про значну чутливість методу ПМ у визначенні оптичних параметрів матеріалу.
Description: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2009.
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/251
Appears in Collections:Photoelectronics

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
fotoel_18_2009_24-27.pdf116.66 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.