Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2479
Назва: INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSIS
Інші назви: ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛИЗА
ДОСЛІДЖЕННЯ НАНОСТРУКТУРОВАНОЇ ПОВЕРХНІ КРЕМНІЮ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛІЗУ
Автори: Smyntyna, Valentyn A.
Kulinich, O. A.
Yatsunskiy, I. R.
Marchuk, I. A.
Pavlenko, Mykola V.
Смынтына, Валентин Андреевич
Кулинич, О. А.
Яцунский, Игорь Ростиславович
Марчук, И. А.
Павленко, Николай Николаевич
Сминтина, Валентин Андрійович
Кулініч, О. А.
Яцунський, Ігор Ростиславович
Марчук, І. О.
Павленко, Микола Миколайович
Бібліографічний опис: Фотоэлектроника = Photoelectronics
Дата публікації: 2011
Видавництво: Astroprint
Ключові слова: nanostructured silicon
fractal analysis
наноструктурированный кремний
фрактальный анализ
наноструктурований кремній
фрактальний аналіз
Серія/номер: ;Вип.20,С.63-66
Короткий огляд (реферат): Fractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron microscope.A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated.It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes.
Фрактальный анализ был применен для исследования электронных изображений наноструктурированных поверхностей кремния, определения их морфологических особенностей. Были получены значения фрактальной размерности для двух образцов с различной формой наноструктурирования.
Фрактальний аналіз був застосований для дослідження електронних зображень наноструктурованих поверхонь кремнію, визначення їх морфологічних особливостей. Були отримані значення фрактальної розмірності для двох зразків з різною формою наноструктуровання.
Опис: Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2011. - англ.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2479
Розташовується у зібраннях:Photoelectronics

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
фото_20_63-66.pdf255.75 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.