INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSIS

Smyntyna, Valentyn A.; Kulinich, O. A.; Yatsunskiy, I. R.; Marchuk, I. A.; Pavlenko, Mykola V.; Смынтына, Валентин Андреевич; Кулинич, О. А.; Яцунский, Игорь Ростиславович; Марчук, И. А.; Павленко, Николай Николаевич; Сминтина, Валентин Андрійович; Кулініч, О. А.; Яцунський, Ігор Ростиславович; Марчук, І. О.; Павленко, Микола Миколайович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2479

Title:	INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSIS
Other Titles:	ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛИЗА ДОСЛІДЖЕННЯ НАНОСТРУКТУРОВАНОЇ ПОВЕРХНІ КРЕМНІЮ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛІЗУ
Authors:	Smyntyna, Valentyn A. Kulinich, O. A. Yatsunskiy, I. R. Marchuk, I. A. Pavlenko, Mykola V. Смынтына, Валентин Андреевич Кулинич, О. А. Яцунский, Игорь Ростиславович Марчук, И. А. Павленко, Николай Николаевич Сминтина, Валентин Андрійович Кулініч, О. А. Яцунський, Ігор Ростиславович Марчук, І. О. Павленко, Микола Миколайович
Citation:	Фотоэлектроника = Photoelectronics
Issue Date:	2011
Publisher:	Astroprint
Keywords:	nanostructured silicon fractal analysis наноструктурированный кремний фрактальный анализ наноструктурований кремній фрактальний аналіз
Series/Report no.:	;Вип.20,С.63-66
Abstract:	Fractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron microscope.A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated.It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes. Фрактальный анализ был применен для исследования электронных изображений наноструктурированных поверхностей кремния, определения их морфологических особенностей. Были получены значения фрактальной размерности для двух образцов с различной формой наноструктурирования. Фрактальний аналіз був застосований для дослідження електронних зображень наноструктурованих поверхонь кремнію, визначення їх морфологічних особливостей. Були отримані значення фрактальної розмірності для двох зразків з різною формою наноструктуровання.
Description:	Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2011. - англ.
URI:	http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2479
Appears in Collections:	Photoelectronics

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
фото_20_63-66.pdf		255.75 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record