|
Repository at Odesa I.Mechnikov National University >
Фізичний факультет >
"Фотоэлектроника" >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2479
|
| Название: | INVESTIGATION OF NANOSTRUCTURED SILICON SURFACES USING FRACTAL ANALYSIS |
| Другие названия: | ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОСТРУКТУРИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛИЗА
ДОСЛІДЖЕННЯ НАНОСТРУКТУРОВАНОЇ ПОВЕРХНІ КРЕМНІЮ МЕТОДАМИ ФРАКТАЛЬНОГО АНАЛІЗУ |
| Авторы: | Smyntyna, V. A.
Kulinich, O. A.
Yatsunskiy, I. R.
Marchuk, I. A.
Pavlenko, N. N.
Смынтына, В. А.
Кулинич, О. А.
Яцунский, И. Р.
Марчук, И. А.
Павленко, Н. Н.
Сминтина, В. А.
Кулініч, О. А.
Яцунський, І. Р.
Марчук, І. О.
Павленко, Н. Н. |
| Ключевые слова: | nanostructured silicon
fractal analysis
наноструктурированный кремний
фрактальный анализ
наноструктурований кремній
фрактальний аналіз |
| Дата публикации: | 2011 |
| Издатель: | Astroprint |
| Источник: | Фотоэлектроника = Photoelectronics |
| Серия/номер: | ;Вип.20,С.63-66 |
| Краткий осмотр (реферат): | Fractal analysis was applied to images of nanostructured silicon surfaces which were acquired with a scanning electron
microscope.A fractal model describing nanostructured silicon surfaces morphology is elaborated.It were obtained the numerical results for the fractal dimensions for 2 samples with different nanostructured shapes.
Фрактальный анализ был применен для исследования электронных изображений наноструктурированных поверхностей кремния, определения их морфологических особенностей. Были получены значения фрактальной размерности для двух образцов с различной формой наноструктурирования.
Фрактальний аналіз був застосований для дослідження електронних зображень наноструктурованих поверхонь кремнію, визначення їх морфологічних особливостей. Були отримані значення фрактальної розмірності для двох зразків з різною формою наноструктуровання. |
| Описание: | Фотоэлектроника = Photoelectronics / ОНУ имени И. И. Мечникова. - Одесса : Астропринт,2011. - англ. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/2479 |
| Располагается в коллекциях: | "Фотоэлектроника"
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
