Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/228
Title: УЗАГАЛЬНЕНИЙ КОМПЛЕКСНИЙ ПОКАЗНИК ЯКОСТІ КРЕМНІЄВИХ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИХ ПЕРЕТВОРЮВАЧІВ ДЛЯ АПАРАТУРИ СПЕЦІАЛЬНОГО ПРИЗНАЧЕННЯ
Other Titles: THE GENERALIZED COMPLEX QUALITY COEFFICIENT OF SILICON PHOTOELECTRIC CONVERTERS FOR SPECIAL PURPOSE APPARATUS
Authors: Лєнков, С. В.
Лепіх, Ярослав Ілліч
Мокрицький, В. А.
Лукомський, Д. В.
Охрамович, М. М.
Lenkov, S. V.
Lepikh, Yaroslav I.
Mokritsky, V. A.
Lukomsky, D. V.
Ohramovich, M. M.
Лепих, Ярослав Ильич
Citation: Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem
Issue Date: 2009
Publisher: Астропринт
Keywords: фотоелектричний перетворювач
технологічний процес
опромінення
текстурування
дефекти
ямки травлення
photoelectric converter
technological process
irradiation
texturing
defects
etching pits
Series/Report no.: ;№ 19. - С. - 44 - 50.
Abstract: У даній статті описано новий спосіб аналізу та керування параметрами ФЕП для апаратури спеціального призначення за допомогою узагальненого комплексного показника якості та надійності. Запропонований параметр Q дозволяє не тільки керувати процесом виготовлення кремнієвих ФЕП, але і проводити аналіз рівня їх якості та оцінювати дефектність готових виробів. The new mode of the analysis and management in PhEC parameters for the special purpose equipment with the help of the generalized complex quality and reliability coefficient is described. The proposed parameter Q allows not only to operate silicon PhEC manufacturing process, but also to carry out their quality level analysis and to estimate the finished production deficiency.
Description: Сенсорна електронiка i мiкросистемнi технологiї = Sensor Electronics and Microsystem Technologies : наук.-техн. журнал. - Одеса : Астропринт - 2009.
URI: http://dspace.onu.edu.ua:8080/handle/123456789/228
Appears in Collections:Сенсорна електроніка і мікросистемні технології

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
sens4_09_44-50.pdf.pdf384.42 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.